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2020 年 1 月 January 2020 岩矿测试 ROCK AND MINERAL ANALYSIS Vol. 39,No. 1 77 -84 收稿日期 2019 -06 -27;修回日期 2019 -08 -19;接受日期 2019 -10 -21 基金项目中央引导地方科技发展专项资金 “湖南省地质测试研究院大型仪器科研设备购置项目” 2018KT5001 作者简介禹莲玲, 硕士, 工程师, 从事岩矿测试分析。E - mailyull2010 yeah. net。 通信作者彭君, 博士, 高级工程师, 主要从事地质实验测试技术方面的应用及研究。E - mailpengjun6539126. com。 禹莲玲,郭斌,柳昭, 等. 电感耦合等离子体质谱法测定高锡地质样品中的痕量镉[ J] . 岩矿测试, 2020, 39 1 77 -84. YU Lian - ling,GUO Bin,LIU Zhao,et al. Determination of Low - content Cadmium in Sn - rich Geological Samples by Inductively Coupled Plasma - Mass Spectrometry[ J] . Rock and Mineral Analysis, 2020, 39 1 77 -84. 【DOI 10. 15898/j. cnki. 11 -2131/td. 201906270094】 电感耦合等离子体质谱法测定高锡地质样品中的痕量镉 禹莲玲,郭斌,柳昭,赵昕,戴长文,彭君* 湖南省地质测试研究院,湖南 长沙 410007 摘要应用电感耦合等离子体质谱法 ICP - MS 测定地质样品中的痕量镉, 存在多种质谱干扰, 通常采用在 线或离线方程进行校正, 当样品中含锡较高时, 采用传统固定系数校正方程, 易导致测定结果有明显偏离, 甚 至结果出现负数。本文针对含高锡的地质样品, 应用 ICP - MS 测定其中的镉, 采用氢氟酸 - 高氯酸 - 硝酸 敞开酸溶消解、 硝酸浸提体系处理样品, 通过测定111Cd、 113Cd、114Cd 同位素, 研究了干扰元素 Sn、 In、 Zr、 Mo 对 镉测定的影响。结果表明镉与干扰源浓度变化呈非简单的正相关性。①同质异位素 Sn 或 In 产生的干扰增 值 Δ 114Cd/114Sn 或113Cd/113In 随干扰源浓度增大逐渐变大,114Sn 对114Cd 的干扰系数在 0. 0272 ~ 0. 0222, 113In对113Cd 的干扰系数在 0. 0670 ~0. 0412; ②Zr 和 Mo 在测定条件下形成氧化物和多原子复合离子物质对 Cd 均产生不同程度的质谱干扰。通过测定与样品中干扰源浓度相近的单一标准溶液产生的 Cd 干扰值, 经 在线修正干扰系数 γ , 建立了精确的校正方程。该方法经标准物质验证, 准确度高, 相对标准偏差在 6. 57 ~9. 94 n 7 , 方法检出限为 0. 03mg/kg, 达到了地质分析检测要求, 为高锡地质样品中的痕量镉 分析提供了依据。 关键词地质样品;锡;镉;氢氟酸 - 高氯酸 - 硝酸酸溶;在线修正;电感耦合等离子体质谱法 要点 1建立了三酸敞开消解、 硝酸浸提体系, 利于 ICP - MS 测定痕量镉。 2总结了镉与锡、 铟、 锆和钼干扰元素的关系, 实现在线方程修正。 3同时测定111Cd、 113Cd、114Cd 同位素, 使镉测定结果更加准确可靠。 中图分类号O657. 63文献标识码B 镉是比较难电离的稀散痕量元素, 在地壳中自然 丰度低, 约0. 2mg/kg。测定地质样品中的镉常用极 谱法 [ 1 ]、 火焰原子吸收光谱法[ 2 ]、 石墨炉原子吸收光 谱法 [ 3 -4 ]、 动力学光度法[ 5 ]、 氢化物发生 - 原子荧光 光谱法 [ 6 -9 ]等, 但上述方法对样品处理复杂, 测定手 续繁琐, 且仅测定单个元素; 用电感耦合等离子体发 射光谱法 ICP -OES [ 10 -12 ]测定地质样品中的镉, 存 在受基体光谱干扰严重、 检出限高、 准确度低等问题。 电感耦合等离子体质谱法 ICP - MS 具有样品 需求量少、 测定范围宽、 检出限低、 可多元素同时测 定的优点, 现已被广泛应用于地质、 环境、 医药、 食品 及半导体领域。但存在多种质谱干扰, 影响元素的 测量准确度。如测定地质样品中所有同位素镉, 可 能受 Sn、 In、 Zr、 Mo、 Nb、 Pd、 Ru 和 Y 同质异位素和氧 化物或氢氧化物的干扰[13 ], 由于 Sn、 Zr、 Mo、 Nb 的 含量为镉同位素含量的数十倍, 易形成95Mo16O、 94Zr16OH、94Mo16OH、93 Nb18O[14 ]等对111Cd 产生正干 扰, 114 Sn 和97Mo 16 OH、 98 Mo16O、 96Zr17OH、96 Zr18O 等 对114Cd 产生正干扰。采用三酸 氢氟酸 - 硝酸 - 高 氯酸 敞开消解 - 王水浸提, 因 Cl 原子的引入, 产生 77 ChaoXing 74Se37Cl、76Se35 Cl、 76 Se37Cl、 78 Se35Cl、 77Se37Cl从而影 响111Cd、 113Cd 和114Cd 同位素的测定, 使测定值高于 实际值。对影响镉测定的干扰源, 研究工作者在样 品制备过程中通过萃取[15 -16 ]、 沉淀 [17 ]、 蒸馏[18 ]等 手段实现基体干扰源分离, 测定过程中采用动态碰 撞池/反应池技术 [19 -20 ]、 膜去溶法[12 ]、 电感耦合等 离子体飞行时间质谱法 ICP - TOF - MS [21 ]等手 段有效解决氧化物、 多原子复合离子、 双电荷离子等 产生的干扰问题。对同质异位素谱峰叠加干扰, 研 究者多采用扣除锡干扰的校正方法[22 -29 ]。已有研 究采用 ICP - MS 法测定低含量锡标准物质中的镉, 测定值与认定值相符; 而测定高含量锡标准物质中 的痕量镉时, 测定结果偏离明显, 甚至出现负值。究 其原因, 主要是采用传统的固定系数校正方程会使 过度扣除锡产生的干扰, 导致测定值偏离了认定值。 据此, 本文通过试验和方法确认, 建立了氢氟酸 - 高 氯酸 - 硝酸敞开酸溶消解、 硝酸浸提体系; 通过研究 不同干扰源对111Cd、 113Cd、114Cd 同位素的干扰程度, 实现在线修正干扰系数、 建立校正方程, 取得准确、 高效测定镉含量的效果。 1实验部分 1. 1仪器与工作条件 X - SeriesⅡ型电感耦合等离子体质谱仪 美国 ThermoScientific 公司 , 主要工作条件如下 RF 功率 1250W; 等离子体气流量 15. 0L/min; 辅助气流量 1. 1L/min; 雾化气流量 1. 0L/min; 进样泵速为 40 r/min; 进样冲洗时间 25s; 扫描方式为跳峰。 数字天平。温控加热电板。 1. 2标准溶液和主要试剂 根据地质样品和标准物质中镉含量以及敞开酸 溶消解锡、 铟、 锆和钼溶出率, 文中干扰源浓度依照 待测液中的实际浓度范围配制。选择高、 中、 低含量 镉一级标准物质 中国地质科学院地球物理地球化 学勘查研究所 和系列标准溶液的配制见表 1。 1000mg/L Sn、 Mo、 Zr、 In、 Cd、 Rh 标准储备液 国家有色金属及电子材料分析测试中心 , 以上标 准溶液使用时稀释至 1mg/L。 硝酸、 氢氟酸均为优级纯, 高氯酸为分析纯, 实 验室用水为去离子水。 1. 3样品制备 1. 3. 1样品来源 样品来自某省 2018 年度土地质量调查中的土 壤及水系沉积物。样品布点、 采样、 制备均按照 GB/T 210102007 和 HJ/T 1662004 的相关规范 执行, 样品中锡含量范围为 0 ~220mg/kg, 镉含量范 围为 0 ~5mg/kg。 表 1一级标准物质和标准溶液浓度 Table 1National standard substances and standard solutions 标准物质 编号 认定值 mg/kg SnCd 元素 标准溶液浓度 μg/L GBW07302a 8.6 1.0 0.108 0.009Cd 0.00, 0.10, 0.20, 0.50, 2.00, 10.0 GBW07305a 5.0 0.51.37 0.10Sn 1.00, 2.00, 5.00, 10.0, 50.0, 100, 200 GBW07308a 3.8 0.40.16 0.01In 0.05, 0.10, 0.20, 0.50, 2.00, 5.00, 10.0 GBW07310 1.4 0.31.12 0.08Mo 1.00, 2.00, 5.00, 10.0, 50.0, 100 GBW07318 9.5 1.70.20 0.03Zr 10.0, 50.0, 100, 200, 500 GBW07407 3.6 0.70.08 0.02 GBW07307a 2.5 0.45.6 0.6 GBW0740518 30.45 0.06 GBW0740672 70.13 0.03 1. 3. 2样品前处理 称取 0. 2g 精确至 0. 0001g 样品放入 50mL 聚 四氟乙烯坩埚中, 用少量去离子水润湿, 往坩埚中加 入氢氟酸、 硝酸各 5mL, 加高氯酸 1mL, 并置于 200℃电热板上敞开消解至白烟冒尽, 趁热加入 50的硝酸 8mL 微沸, 加入去离子水直至溶液清亮 后取下, 冷却, 将溶液转移至 25mL 比色管中, 并定 容摇匀, 然后稀释 8 倍 换算系数因子为 1000 , 摇 匀, 静置待测。 2结果与讨论 元素在自然界中均以多种同位素存在, ICP - MS 测定过程中选择同位素时遵循丰度大、 灵敏度 高、 无干扰或干扰小、 检出限低的原则。EPA200. 8 推荐干扰方程 114Cd 114M 测 - 0. 0271 118Sn,111Cd 111M 测 -1. 073 108MoO 0. 764 106ZrO。通过求 证干扰系数 γ 干扰系数 γ 干扰源产生镉的强 度/干扰源的强度 。借鉴科技工作者的经验及前 期的大量实验结论, 本实验以同质异位素114Sn、 113In, 难熔氧化物90 Zr16O, 多原子复合离子92Mo16O 为干扰源, 测定111Cd、 113Cd、114Cd 同位素, 确定干扰 源对镉产生的干扰程度, 建立精确的校正方程, 以准 确获取镉测定值。 2. 1同质异位素叠加干扰及校正 在有同质异位素干扰的情况下, 通常从所测质谱 峰中直接扣除叠加的同质异位素峰值, 获得同位素丰 度比, 这种方法适用于干扰元素存在两个以上的同位 素。常学东 [ 28 ]认为镉受谱峰重叠干扰严重, 选择消 87 第 1 期 岩矿测试 http ∥www. ykcs. ac. cn 2020 年 ChaoXing 除114Sn 对114Cd 测定干扰。对干扰源高的样品, 提及 了测定出干扰源的具体浓度, 采用离线校正, 没有开 展进一步的研究。王妃等 [ 29 ]认为114Sn 对114Cd 的干 扰程度与两者的比值有关, 研究表明当两者之比大于 2 时, 需要采用离线校正干扰, 结果准确可靠, 但是对 于批量地质样品, 手续繁琐。 114Cd 受114Sn 的重叠干 扰, 理论上通过测定 Sn 的其他无干扰同位素如118Sn, 间接 计 算 出114Sn, 114 Cd 114 M测- 114 Sn测, 114 Sn 114Sn/118Sn118Sn,114Sn/118Sn 即两种同位素的自 然丰度比值 0.65 /24.01 为常数, 理论干扰校正 方程114Cd 114 M测- 0. 0271 118 Sn。同理113Cd 113M 测-0.0434 115In。表2 列出了不同浓度的 Sn 和 In 干扰源对 Cd 同位素的干扰情况。 表 2 Sn 和 In 对 Cd 同位素干扰程度 Table 2Interference of Sn and In on Cd isotope 干扰源 干扰源浓度 μg/L Cd 同位素测定值 μg/L 111Cd113Cd114Cd Δ 114Cd/ 114Sn 或 113Cd/113In 干扰系数 γ 1. 000. 0040. 000 0. 0300.03030.0231 2. 000. 0030. 002 0. 0640.03200.0272 5. 000. 0030. 003 0. 1500.03000.0250 10. 00. 0020. 000 0. 2900.02900.0243 Sn 20. 00. 0040. 001 0. 5910.02960.0239 40. 00. 0030. 007 1. 2130.03030.0234 60. 00. 0010. 003 1. 8810.03130.0227 80. 00. 0040. 006 2. 5160.03150.0226 1000. 0010. 009 3. 1800.03180.0224 2000. 0070. 013 6. 3740.03190.0222 0. 050. 0020. 036 0. 0060.72500.0670 0. 100. 0050. 072 0. 0030.72290.0520 0. 200. 0010. 117 0. 0020.58520.0462 In 0. 500. 0030. 293 0. 0020.58610.0430 2. 000. 0061. 175 0. 0110.58740.0416 4. 000. 0122. 418 0. 0070.60450.0413 6. 000. 0063. 664 0. 0030.61060.0413 10. 00. 0806. 216 0. 0060.62160.0412 表 2 中的干扰系数 γ 通过各元素的信号强度 计算可得。Δ 114Cd/114Sn 表示 Sn 在不同浓度下每 单位产生的 Cd 干扰增量值; Δ 113Cd/113In 表示 In 在不同浓度下每单位产生的 Cd 干扰增量值。 114Sn 对114Cd 谱峰重叠干扰严重, 产生的干扰随 Sn 浓度 呈正相关性。本实验中 Δ 114Cd/114Sn 值从 0. 0303 至 0. 0319, 呈递增关系, 114Sn 对114Cd 的 γ 从 0. 0272 至 0. 0222, 逐 渐 递 减, 非 理 论 计 算 值 0. 0271, Δ 114Cd/114Sn 值与 γ 变化互为相反关系。Sn 产生 的干扰值随 Sn 浓度变化梯度不一致, 当干扰源 Sn 浓度越高时, 产生的干扰增值逐渐增大, Sn 对 Cd 产 生的干扰程度增大。当 Sn 浓度超过 20μg/L 时, Δ 114Cd/114Sn 和干扰系数变化明显 γ 从 0. 0271 降低至0. 0243 , Sn 浓度较高时, 校正方程使用相同 γ, 计算的干扰值比实际产生的干扰值高, 导致过度 扣除 Sn 干扰值, 使校正值明显偏离真值。此时通过 测定同样品中 Sn 浓度相近的 Sn 标准溶液, 计算此 浓度下 Sn 产生的干扰程度, 在线修正 γ, 建立精确 的校正方程, 重新校正干扰值。Sn 对同位素111Cd 和113Cd没有构成干扰, 说明针对含高锡的地质样品 时可以考虑采用111Cd 和113Cd 测定值。In 只对同位 素113Cd 产生干扰, γ 从0.0670 至0.0412, 当 In 浓度大 于2.00μg/L 时, γ 为0.0413, 干扰规律同干扰源 Sn, 样 品含 In 较高时, 考虑采用111Cd 和114Cd 测定值。 2. 2难熔氧化物和多原子复合离子干扰及校正 在设定的质荷比条件下, 相同质量数的多个元 素的离子或多原子离子会被同时测定, 严重影响样 品中元素测定的准确度和精密度。多原子离子是由 两个或更多原子结合而成的复合离子, 实际工作中, 多原子离子干扰比同质异位素干扰更为严重, 因此, 分离 干 扰 源 和 采 用 干 扰 校 正 显 得 格 外 重 要 [14 -18, 23 -24, 30 ]。ZrO 和 MoO 是难熔氧化物和多原 子分 子 离 子,干 扰 复 杂,应 尽 量 避 免。罗 策 等 [14, 31 -32 ]认为同位素 Cd 除受到 Sn 干扰外, 还受到 ZrOH、 NbO、 MoO 的影响 实验结果表明 ZrO 和 MoO 对同位素 Cd 有干扰, 而 Nb 对 Cd 没有产生干扰 。 表 3 Zr 和 Mo 对 Cd 同位素干扰程度 Table 3Interference of Zr and Mo on Cd isotope 干扰源 干扰源浓度 μg/L Cd 同位素测定值 μg/L干扰系数 γ 111Cd113Cd114Cd111Cd113Cd114Cd 1.000.01430.00720.02290.1853 0.2168 0.4708 2.000.01040.00850.01170.0644 0.0491 0.1472 5.000.02380.01150.01410.0537 0.0229 0.0645 Zr10.00.02040.01250.01330.0261 0.0154 0.0351 50.00.09360.04330.03700.0216 0.0097 0.0194 1000.15420.05980.04010.0186 0.0070 0.0110 2000.32500.09630.06020.0174 0.0050 0.0073 5000.79110.23750.15580.0169 0.0049 0.0077 1.000.00470.00370.00650.1403 0.1148 0.3954 2.000.00750.01600.00570.3860 0.9007 0.5331 Mo5.000.01770.01280.01471.2442 0.8064 2.3041 10.00.02690.02500.02310.7206 0.6584 1.4057 20.00.05650.04500.04401.1176 0.8013 1.9240 50.00.14690.10850.11041.1671 0.7775 2.0085 1000.30370.20820.21401.1647 0.7834 1.9465 表3 列出了不同浓度的 Zr 和 Mo 干扰源对不同 97 第 1 期禹莲玲, 等电感耦合等离子体质谱法测定高锡地质样品中的痕量镉第 39 卷 ChaoXing 质量数 Cd 的干扰情况。同位素111Cd、 113Cd、114Cd 均 受到了 Zr 和 Mo 不同程度的干扰。Zr 对111Cd 影响 最大, 由 Cd 测定值可知, 当 Zr 浓度达50. 00μg/L 以 上时干扰明显。由111Cd 的干扰系数 γ 得出, 随 Zr 的浓度越大, 干扰越严重, 其规律同 Sn; Zr 对113Cd 影响相对较弱, 当 Zr 浓度达100μg/L 时, 干扰明显, γ 由 0. 007降至 0. 005, 不再随 Zr 浓度变化。Zr 对 114Cd影响最弱, 当 Zr 浓度大于 200μg/L 时, 对114Cd 干扰明显, γ 为定值 0. 007, 不再随 Zr 浓度变化。 Mo 对111Cd 影响最大, 当 Mo 浓度大于 20. 00μg/L, 产生明显干扰, γ 为 1. 16。Mo 对113Cd 和114Cd 影响 程度相当, γ 分别为 0. 78 和 2. 00。由此可以得出, Zr 和 Mo 对测定同位素111Cd、 113Cd、114Cd 有一定正 干扰作用, 当待测液中干扰源浓度大时, 干扰复杂且 对111Cd影响最严重, 此时111Cd 测定值可作参考值, 不宜采用, 应采用113Cd 和114Cd 测定值。 表 4方法准确度实验 Table 4Accuracy tests of the 实际样品和标准 物质编号 Sn 测定值 mg/kg Cd 认定值 mg/kg 未校正的 Cd 测定值 mg/kg 准确校正的 Cd 测定值 mg/kg 111Cd113Cd114Cd111Cd113Cd114Cd γ 0.0272 时114Cd 校正值 114Cd mg/kg 样品 A23. 1 -0. 6270.9870.9750.1690.1770.1620. 081 样品 B30. 8 -0. 7121.2751.5790.4620.4870.5180. 385 样品 C41. 1 -0. 7710.9841.9930.5890.5250.5790. 400 样品 D87. 4 -1. 0391.1603.7500.7440.7630.7440. 362 样品 E54. 0 -0. 4410.7392.0560.2090.1670.199-0.037 样品 F62. 2 -0. 6640.9352.5230.4420.3340.3830. 111 样品 G79. 1 -0. 8741.1063.4740.7070.6540.6740. 328 样品 H148 -1. 2401.2924.8341.1051.1221.026-0. 587 样品 I220 -3. 6223.6748.7623.5013.4243.3541. 121 GBW07302a8. 160.108 0. 0090. 3290.2070.4480. 1670.1380.1640. 132 GBW07305a5. 041.370 0. 11. 7051.5151.6501.4541.3781.4731. 455 GBW07308a3. 970. 160 0.010. 5390.2950.3360. 2020.1660.1960. 182 GBW073101. 431. 120 0.081. 1951.1921.1891.0721.1251.1361. 133 GBW073186. 390. 200 0.030. 5970.4320.4700.2300.2160.2430. 222 GBW074074. 090. 080 0.020. 9270.3380.2740.1540.0770.1260. 115 GBW07307a2. 145. 60 0.65. 6595.6045.6115.4625.5325.5355. 527 GBW0740514. 80.45 0. 060. 8173.0381.0590.4870.5060.4390. 484 GBW0740671. 00. 130 0.030. 4620.8132.4480.1430.1240.127-0. 204 2. 3方法准确度和精密度 按照 1. 3. 2 节所述方法处理样品, 调节仪器参 数, 使仪器处于最优化状态上机测定。以部分含锡 高 的 样 品 及 常 用 标 准 物 质GBW07302a、 GBW07305a、 GBW07308a、GBW07310、 GBW07318、 GBW07407、 GBW07307a、 GBW07405、 GBW07406 进 行分析测定。 通过比较同位素111Cd、 113Cd、114Cd 的校正干扰前 后测定值 表 4 , 不难发现标准物质 GBW07302a、 GBW07305a、GBW07308a、GBW07310、GBW07318、 GBW07407、 GBW07307a、 GBW07405、 GBW07406 准确 校正后的测定值与认定值基本吻合, 低含量镉的样品 受锡干扰程度比高含量镉的样品更为明显。当样品 中含锡较高时, GBW07406 和样品 A 至样品 I 以相同 的干扰系数 γ 为0.0272 进行校正, 镉校正后的值出 现异常, 表明此时过度校正锡对镉的干扰, 导致镉的 校正值严重偏离认定值, 而经在线修正干扰系数 γ 根据表3 中的干扰系数 γ 计算 Cd 值 重新计算得 到的114Cd 测定值与111Cd、 113Cd 准确校正干扰得到的 值基本吻合。但因干扰源浓度较大, 对于低镉样品, 在测定过程中仍存在波动。 鉴于以上结果, 当样品中含锡较高时, 测定镉可 采用在线修正干扰系数重新计算的方法, 测定样品 中114Cd 含量, 同时可以参考111Cd、 113Cd 测定值, 使 之能准确测定样品中镉的含量。 由表5 可得, 一级标准物质 GBW07406 平行测定测 定的相对标准偏差 RSD 为 6.57 ~9. 49 n 7 , 经修正后的干扰方程得到的测定值与认定值相符。 08 第 1 期 岩矿测试 http ∥www. ykcs. ac. cn 2020 年 ChaoXing 表 5方法精密度实验 Table 5Precision tests of the 标准物质 编号 Sn 测定值 mg/kg Cd 认定值 mg/kg 未校正的 Cd 测定值 mg/kg 准确校正的 Cd 测定值 mg/kg 111Cd113Cd114Cd111Cd113Cd114Cd γ 0.0272 时114Cd 校正值 114Cd mg/kg GBW0740671. 00. 130 0.030. 4620.8132.4480.1430.1240.127-0.204 GBW0740670. 20. 130 0.030. 4750.7742.4570.1370.1260.126-0.209 GBW0740670. 40. 130 0.030. 4830.7902.4870.1470.1460.118-0.198 GBW0740670. 10. 130 0.030. 4810.8092.4810.1510.1580.116-0.209 GBW0740670. 40. 130 0.030. 4850.8112.4970.1450.1510.121-0.207 GBW0740670. 50. 130 0.030. 4930.8292.4940.1630.1480.145-0.214 GBW0740669. 70. 130 0.030. 4730.8132.4570.1340.1600.145-0.218 平均值70. 3-0. 4790.8062.4740.1460.1450.128-0.208 标准偏差0. 42-0. 0100.0180.0200.0100.0140.0120.007 RSD 0. 59-2. 0762.2320.8086. 579.949.49-3.12 3结论 本方法采用氢氟酸 - 高氯酸 - 硝酸敞开酸溶消 解、 硝酸浸提体系, 并减少了 Sn、 Zr、 Mo 等干扰源的 溶出和氯的引入, 具有较好的实用性。研究了 ICP - MS法测定同位素111Cd、 113 Cd、 114 Cd 的干扰源 及干扰程度。结果表明, Cd 受同质异位素114Sn、 113In, 难熔氧化物90 Zr16O, 多原子复合离子92Mo16O 干扰。针对 Sn 含量较高 大于20μg/L 的异常地质 样品, 通过测定同样品中干扰源 Sn In 浓度相近的 单一标准溶液产生的 Cd 干扰值, 在线修正干扰系 数 γ, 建立了更精确的校正方程。通过同时测定同 位素111Cd、 113Cd值, 比较同位素 Cd 受干扰程度及测 定值, 避免了因干扰源浓度大、 测定过程中存在波动 等问题, 确保了准确、 高效地测定含锡高的批量地质 样品中的镉。 4参考文献 [ 1]岩石矿物分析 编委会. 岩石矿物分析 第四版 第二 分册 [ M] . 北京 地质出版社, 2011 84 -85. 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