微钻取样-TIMS_MC-ICPMS和LA-MC-ICPMS分析矿物岩石 sup 87 _sup Sr_ sup 86 _sup Sr比值的技术比较_张乐.pdf

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书书书 2014 年 9 月 September 2014 岩矿测试 ROCK AND MINERAL ANALYSIS Vol. 33,No. 5 615 ~624 收稿日期 2014 -04 -09; 修回日期 2014 -05 -09; 接受日期 2014 -05 -30 基金项目 国家自然科学基金重大研究计划项目 91214202 作者简介 张乐, 硕士研究生, 同位素地球化学。E- mail zhangle -001 qq. com。 通讯作者 任钟元, 研究员, 主要从事火成岩岩石学和同位素原位分析研究。E- mail zyren gig. ac. cn。 文章编号 02545357 2014 05061510 微钻取样 - TIMS/MC - ICPMS 和 LA - MC - ICPMS 分析 矿物岩石87Sr/ 86 Sr 比值的技术比较 张乐1, 2,任钟元1*,丁相礼1, 2,吴亚东1, 2,赖永旺1, 2 1. 中国科学院广州地球化学研究所,同位素地球化学国家重点实验室,广东 广州 510640; 2. 中国科学院大学,北京 100049 摘要 微区 Sr 同位素体系相对于传统全岩 Sr 同位素研究, 可以揭示样品自 身存在的不均一性, 更好地反映样品经历的地质过程, 已被广泛应用于各种 地质研究领域, 如研究壳幔相互作用、 岩浆起源和演化, 岩浆体系开放性研 究, 沉积盆地物源示踪及气候环境研究。准确测定 Rb - Sr 同位素比值是应 用该同位素体系的前提。微钻取样 - 热电离质谱/多接收电感耦合等离子 体质谱 TIMS/MC -ICPMS 和激光剥蚀多接收电感耦合等离子体质谱 LA -MC -ICPMS 作为分析地质样品微区 Sr 同位素组成的有效手段, 已经得 到了较为广泛的应用。两种技术在样品制备、 干扰校正和质谱测试等方面各具优势和不足。微钻取样 - TIMS/ MC -ICPMS 的最大优势是可获得高精度的 Sr 同位素数据 外精度优于100 10 -6, 2SD ; 但由于需要进行化学 处理, 流程繁琐耗时 约10 天 , 实验周期较长, 同时需要严格控制化学流程空白, 且取样直径 200 ~2000 μm 和取样深度 100 ~2000 μm 较大, 空间分辨率较低, 但是该方法可以对高 Rb 样品 如钾长石 进行有效分析。 LA -MC -ICPMS 的最大优势是样品制备简单, 数小时即可完成, 且分析效率高, 根据样品 Sr 含量的大小激光 束斑直径多在60 ~300 μm 之间变化,其空间分辨率较前一种方法高, 可在短时间内对大量样品进行分析。但 由于不能进行化学分离, 分析过程中存在多种干扰 如 Rb、 Ca、 Kr 和 REEs 等 , 影响了测试的精度 约 200 10 -6, 2SD 和准确度 约150 10-6 。该方法目前只能对高 Sr 低 Rb 的样品 如斜长石、 磷灰石等 进行有效分 析, 而对于干扰元素含量较高的样品目前无法应用。本文认为, 对于微钻取样法, 应将改进化学流程作为重点 研究方向, 提高化学处理效率, 同时改善微钻取样法的取样技术, 减小取样直径和深度以提高空间分辨率; 对于 激光剥蚀法, 重点突破 Kr、 Rb 和二价 REEs 等干扰校正问题, 提高干扰元素含量较高的样品的分析精度和准确 度, 同时需要提高仪器灵敏度以满足低 Sr 含量样品的分析要求。 关键词 锶同位素; 微区分析; 微钻; 热电离质谱/多接收电感耦合等离子体质谱; 激光剥蚀多接收电感 耦合等离子体质谱 中图分类号 O614. 232; O657. 63文献标识码 A Rb - Sr 同位素体系是同位素地球化学领域应 用最广泛的同位素体系之一。 87Rb 通过 β 衰变转变 为87Sr, 半衰期为 4. 89 1010年[1 ]。Rb 和 Sr 均为不 相容亲石元素, 但是 Rb 的不相容性较 Sr 更强, 在壳 幔分异过程中, Rb 更容易进入地壳。这导致了伴随 地质演化, 地壳的 Rb/Sr 比值越来越高, 同时受 Rb 衰变影响的87Sr/86Sr 相对于地幔的87Sr/86Sr 比值具 有更快的增长速率[2 ] 图 1 。Rb - Sr 同位素体系 目前被广泛应用于地质年代学研究[3 -7 ]、 壳幔相互 作用、 岩浆起源和演化[8 -12 ]、 岩浆体系开放性研 究[13 -17 ]、 沉积盆地物源示踪[18 ], 以及气候环境等方 面的研究[19 -24 ]。准确测定 Rb - Sr 同位素比值是应 516 ChaoXing 用该同位素体系的前提。传统的分析方法是将岩石 或矿物粉碎成粉末, 然后通过化学方法分离出 Sr, 运用热电离质谱 TIMS 或者多接收电感耦合等离 子体质谱 MC - ICPMS 测试87Sr/86Sr 同位素比值。 近十多年来随着仪器设备性能的提高以及测试方法 的改进, 不仅极大地改善了传统 Sr 同位素的测试精 度, 而且已发展到可以对地质样品进行微区 Sr 同位 素的测试[8, 15, 25 -28 ]。相对于传统的将整个样品粉碎 溶解的方法, 微区技术可揭示样品本身内部存在的 不均一性, 为地质解释提供更全面的地球化学支持。 针对目前常用的两种 Sr 同位素微区分析方法 微钻取样 - TIMS/MC - ICPMS 和激光剥蚀多接收电 感耦合等离子体质谱 LA - MC - ICPMS , 本文详细 阐述了这两种方法的样品制备过程、 样品预处理和 质谱测试的流程, 对比了各自的优势以及存在的不 足, 提出了未来的发展方向。 图 1地 幔 和 地 壳 中 Sr 同 位 素 的 演 化 据 Faure 和 Powell[2 ] Fig. 1The evolution of Sr isotope in mantle and crust after Faure and Powell[2 ] 1微钻取样 - TIMS /MC - ICPMS 微区 Sr 同位素测试技术 国内外已有多位研究者使用微钻取样技术研究 了斜长石、 钾长石和单斜辉石等单矿物的微区 Sr 同 位素[7, 13, 15, 26, 29 ]。该方法的基本流程是 使用微钻 在样品目标位置取样; 对钻取的样品进行化学溶解 分离; 使用 TIMS 或者 MC - ICPMS 进行同位素 测试。 1. 1微钻取样 目前商业化的微钻取样系统已带有实时的光学 成像系统, 可十分便捷准确地选取样品目标位置。取 样前将样品上下分别 岩石或者单矿物等 打磨抛光 成光洁的平面。使用超声波清洗器在去离子水 Milli -Q 水, 电阻率 >18.2 MΩcm 中清洗样品, 去除可 能的污染。然后将样品固定在微钻操作台上。通过 显微成像系统选取取样位置, 调整微钻倾角, 设置好 采样深度, 钻进速度等工作参数后开始采样。文献中 提到了两种不同的取样钻头。一种是空心钻头, 可以 从样品上钻取“微型岩心” [ 5, 7, 29 -30 ], 取样直径约 0. 5 ~2 mm, 深度小于 2 mm。这种方式下对亚毫米级的 结构可能无法进行准确取样。不过通过这种方法获 取的 “微型岩心” 可以在双目镜下观察, 去除包裹体等 杂质。另一种是实心钻头 直径约50 μm , 在样品的 目标位置钻进形成取样粉末。取样直径约 0. 2 mm, 深度约1 mm [ 15, 26 ]。Charlier 等[ 26 ]描述了 Merchantek MicroMillTM使用这种实心钻头采用过程 取样前在样 品目标位置滴一滴去离子水, 用于冷却和润滑钻头, 同时可直接吸收钻取出来的样品粉末, 避免了样品粉 末的喷溅。显然在 Charlier 等 [ 26 ]采用的取样方式下 就无法通过双目镜观察去除样品中的杂质。微钻钻 取完成后使用移液管将样品转移。 1. 2化学处理 样品中含有的 Ca 和 Rb 等元素对 Sr 同位素的 测试会造成较严重的干扰。因此需要对微钻钻取的 样品进行化学处理去除这些干扰元素的影响。不同 的研究者采用的具体化学处理流程存在一些差异, 但都是对样品先进行溶解, 再使用离子交换树脂去 除干扰[5, 26, 31 ]。下面以 Charlier 等[26 ]的方法为例, 简要介绍化学处理过程 图 2 。 微钻钻取的样品直接转入溶样杯中, 加入 200 μL 29 mol/L 氢氟酸和10 μL 10 mol/L 硝酸, 密封, 然 后在加热板上加热数小时。开盖后继续加热蒸发掉 多余的氢氟酸和 SiF4。依次加入 200 μL 6 mol/L 盐 酸, 加热数小时, 蒸干。再加入 10 mol/L 硝酸, 加热 数小时。最后蒸干后加入 200 μL 3 mol/L 硝酸。充 分清洗用于化学分离的 Sr SpecTM树脂。使用 6 L 的 0.05 mol/L 硝酸、 0. 1 mol/L 硫酸和 6 mol/L 盐酸依 次淋洗树脂柱。清洗完成后将树脂装入 50 mL 滴管 浸泡在去离子水中备用。过柱前使用 6 mol/L 盐酸 淋洗数次树脂, 再使用去离子水淋洗。最后用200 μL 3 mol/L 硝酸过三次, 使树脂处于硝酸介质中。装入 溶于 200 μL 3 mol/L 硝酸的样品, 使用 500 μL 3 mol/L硝酸淋洗出Rb 和Ca。最后使用300 μL 0.05 mol/L 硝酸淋洗下 Sr 图 3 。淋洗下来的 Sr 溶液蒸 干, 等待下一步用 TIMS 或者 MC - ICPMS 测试。由 于微钻取样量非常小 <10 ng ~10 mg , 严格控制流 616 第 5 期 岩矿测试 http ∥www. ykcs. ac. cn 2014 年 ChaoXing 图 2Sr 同位素化学分离流程 据参考文献[ 26] Fig. 2Sketch map of chemical separation for Sr isotope after Reference[ 26] 图 3Rb 和 Sr 淋洗曲线示意图 转自参考文献[ 26] , 图 3 Fig. 3Schematic diagram of elution of Rb and Sr from Reference[ 26] ,Fig. 3 程空白对于准确获取 Sr 同位素组成至关重要。目 前文献报道的 Sr 的流程空白在 12 pg ~0. 3 ng 之间 变化[5, 26, 29 ]。值得注意的是, 如果样品在溶解前加 入87Rb 和84Sr 稀释剂, 就可以测得样品的 Rb 和 Sr 含量。整个化学处理流程周期约两个星期。 1. 3TIMS/MC -ICPMS 测试 TIMS 测试采用单带结构测试, 其测试过程包 括 点样 - 上样抽真空 - 测试分析[32 ]。点样 取 1 μL的样品点在 Ta 带中央, 在约 0. 5 A 的电流下缓 慢蒸干。缓慢加大电流, 注意观察灯丝变至暗红, 持 续 5 ~10 s, 然后迅速将电流调到 0, 取出样品装于 样品盒中。上样抽真空 将样品盒中已经点好的样 品按顺序装进仪器的样品轮上。大概需要 5 ~ 6 h 以上的时间待真空变好后才可以进行测试。测试分 析 在关闭分析门的状态下逐渐升高 Ta 带上的电流 至温度达到 1100℃ 左右时, 若真空达到要求值, 可 以打开分析门, 观察信号。调节仪器相关参数, 使样 品信号达到最大即可开始采集数据。整个测试过程 约 1 h。 MC - ICPMS 测试 使用 MC - ICPMS 测试较 TIMS 测试简单一些。将分离好的样品稀释到合适 的浓度 约 150 ng/g , 就可以直接上机测试。整个 过程不到 20 min。 2LA - MC - ICPMS 微区 Sr 同位素测试 技术 近十多年来随着激光剥蚀技术 LA 和多接收 电感耦合等离子体质谱 MC - ICPMS 的迅猛发展, 使用 LA - MC - ICPMS 技术对样品进行微区多种同 位素研究得到了广泛应用[33 -38 ]。国内外研究者使 用该技术对多种地质样品如斜长石[16, 27 -28, 39 -40 ]、 单 斜 辉 石[28, 41 -42 ]、珊 瑚[43 ]、磷 灰 石[25, 40, 44 ]、钙 钛 矿[45 -46 ]、 碳酸盐[25, 28, 47 ]、 生物壳体[27, 48 ]以及玄武质 玻璃[8 ]等的微区 Sr 同位素进行了研究。使用激光 剥蚀技术分析 Sr 同位素的最大特点是样品不需要 做化学前处理, 样品制备比较简单。但同时正因为 没有做化学分离, 测试过程中不可避免地将会受到 各种干扰。因此使用激光剥蚀技术分析 Sr 同位素 的重点是如何扣除这些干扰。 2. 1样品制备 首先从粉碎的样品中挑选出要分析的部分 如 斜长石和磷灰石等单矿物、 珊瑚样品 , 用双面胶将 挑选好的样品颗粒粘在玻璃板上。然后放上模具, 灌入树脂。待树脂固结后将样品靶从模具上取下。 使用磨抛机打磨抛光样品, 直至样品颗粒露出光洁 的平面。测试前使用超声波清洗器在去离子水中清 洗样品, 去除可能的污染。约 2 ~ 3 h 可完成样品 制备。 716 第 5 期张乐, 等 微钻取样 - TIMS/MC - ICPMS 和 LA - MC - ICPMS 分析矿物岩石87Sr/86Sr 比值的技术比较第 33 卷 ChaoXing 2. 2干扰校正 由于没有进行化学分离, 使用激光剥蚀技术分 析 Sr 同位素的过程中会受到多种干扰。最主要的 干扰来自 Kr 和 Rb 的同质异位素干扰。对于那些 富集稀土元素 REEs 的样品 如磷灰石 , 二价的 Er 和 Yb 可能也会造成显著的影响。同时部分双原 子 Ca 的聚合物和 CaAr 聚合物, Fe 氧化物, Ga 氧化 物和 Zn 氧化物与 Sr 同位素质量数重合, 可能也会 对 Sr 同位素比值测试产生影响。 2. 2. 1同质异位素干扰 1 Kr 干扰校正 Kr 主要来自于激光剥蚀系统的载气 He 气和等 离子体质谱的样品气 Ar 气。两个 Kr 的同位素84Kr 和86Kr 分别干扰84Sr 和86Sr。前人给出了多种不同方 法来扣除 Kr 的干扰。Christensen 等 [ 27 ]通过测试获 得的83Kr 的信号结合 Kr 的天然同位素比值计算出 84Kr和86Kr 的信号强度, 再将其扣除。这种方法一般 没有考虑 Kr 的质量分馏。更多的研究者采用气体空 白来扣除 Kr 的干扰 [ 16, 25, 28, 41 ]。具体的方法是在激光 剥蚀前, 先收集一段时间的气体背景中的 Kr 的信号, 然后将其平均值从激光剥蚀段的信号中减去。 Jackson 等 [ 8 ]采用了另一种方法, 从84Sr 的信号中扣除 一 定 量 的84Kr,使84Sr/88Sr 比 值 与 推 荐 值 0.00675476 一致。然而如果存在除过 Kr 以外其他 一些与84、 86 和88 重合的干扰, 该方法将无能为力。 2 Rb 干扰校正 Rb 的两个同位素中85Rb 为稳定同位素, 87 Rb 具放射性, 其通过 β 衰变形成87Sr。由于质量数相 同, 87Rb 对87Sr/86Sr 的测试具有强烈的干扰。使用 化学方法可以通过离子交换树脂分离掉 Rb 来避 免87Rb 的干扰。然而, 在使用激光剥蚀技术时, 从 样品激发出的所有元素被传输进了质谱。目前所有 使用 LA - MC - ICPMS 分析 Sr 同位素的方法都是 通过监测85Rb 的信号结合85Rb/87Rb 的天然同位素 比值来进行87Rb 干扰校正的。然而不同的研究者 采用的85Rb/87Rb 存在一些差异, 尽管这些差异比较 小。例如, Paton 等[45 ]和 Woodhead 等[47 ]采用的 85Rb/87Rb比值为 2. 5934, Jackson 等[8 ]采用的比值 为 2. 5874, 而 Copeland 等[48 ]采用的比值为 2. 5970。 对于含有较高 Rb 的样品, 这些比值的差异将引入 较大的误差。Kimura 等[39 ]发现使用 MC - ICPMS 在溶液状态下测得的85Rb/87Rb 比值与 IUPAC 的推 荐值存在 -4. 64 的偏差。同时由于 Rb 的质量歧 视很难检测, 大多数研究采用 Sr 的质量歧视来校正 Rb 的质量歧视。这种方法对于低 Rb 的样品可以 获得较理想的结果, 而一旦样品的 Rb 含量较高, 这 种方法将无法准确扣除 Rb 的干扰。Jackson 等[8 ]在 测试熔体包裹体 Sr 同位素组成时采用了 “标样 - 样 品 - 标样” 交叉的方法来校正 Rb 的质量歧视, 在被 测样品前后测试与样品成分相似的玻璃标样的 85Rb/87Rb比值来校正样品的比值。本文认为, 阻碍 准确扣除 Rb 对 Sr 干扰的主要原因是 Rb 和 Sr 的物 理化学性质存在巨大差异, 质谱分析过程中存在较 强的非质量歧视引起的分馏。未来需重点探讨研究 Rb 和 Sr 的分馏机制, 从而准确扣除 Rb 对 Sr 同位 素分析的干扰影响。 2. 2. 2Er2 和 Yb2 干扰校正 含有高稀土元素 REEs 的样品 如磷灰石 可 能需要考虑 Er2 和 Yb2 的影响。比较重要的潜在 二价 REEs 干扰包括168Er2 和168Yb2 、 172 Yb2 和 174Yb, 分别对84Sr、86Sr 和87Sr 构成干扰。前人采用 无干扰的167Er2 83. 5 、 170 Er2 85. 5 和173Yb2 86. 5 较成功地扣除了二价 REEs 的干扰[28, 40, 44 ]。 对于 REEs 含量较低的样品 如碳酸盐矿物、 斜长 石、 单斜辉石等 , 二价稀土元素对 Sr 同位素测试产 生的影响有限, 可不予考虑[16, 27, 42, 47 ]。 2. 2. 3Ca 双原子聚合物和 CaAr 聚合物干扰校正 Woodhead 等[47 ]测试碳酸盐矿物的 Sr 同位素组 成时发现 Ca 双原子聚合物 如43Ca44Ca 和 CaAr 聚合物 如44Ca40Ar 对 Sr 同位素测试会产生影 响。他们通过在质量数 82 检测42Ca40Ar 和42Ca40Ca 的信号, 从 84、 86 和 88 的信号中扣除一定比例的干 扰。不过其他一些研究则指出双原子 Ca 聚合物和 CaAr 聚合物对 Sr 同位素干扰是十分有限的, 在这 些研究中没有进行这类干扰的校正[28, 40, 49 ]。 其他一些干扰如 Fe 双氧化物 54Fe16O 2 、 Ga 和 Zn 的氧化物 71Ga16O 和68Zn16O , 虽然与 Sr 同位素 的质量数重合, 然而其对87Sr/86Sr 比值的影响有限。 大多数研究没有考虑这些氧化物可能造成的干 扰[8, 16, 27 -28, 47 ]。 2. 3LA -MC -ICPMS 测试 测试样品前, 使用超声波清洗器在去离子水中 清洗样品靶, 去除样品表面可能存在的污染。将激 光剥蚀系统与多接收等离子体质谱联机。设置好激 光剥蚀束斑大小、 频率、 剥蚀方式 点剥蚀或者线扫 描 以及剥蚀时间等工作参数后, 就可以开始选取 样品需要分析的位置, 开始激光剥蚀。在点剥蚀的 方式下, 激光始终在同一个位置上采样, 而采用线扫 816 第 5 期 岩矿测试 http ∥www. ykcs. ac. cn 2014 年 ChaoXing 描的方式, 激光将沿着预设的路径采样。激光剥蚀 激发出来的样品微粒在 He 气的携带下直接进入质 谱的等离子体部分被离子化。离子在经过静电场和 磁场后进入接收器部分被检测分析。单点分析时间 一般不到 3 min。根据样品 Sr 含量, 已有的研究采 用的 激 光 束 斑 直 径 多 在 60 ~ 200 μm 之 间 变 化[8, 25, 39, 45 ]。获得的数据一般采用离线方式进行干 扰校正和质量歧视校正。 2. 4质量歧视校正 目前无论是使用微钻取样技术还是激光剥蚀技 术, 绝大多数研究都是采用下面的指数法则来校正 仪器的质量歧视效应。 87Sr 86 Sr true 87Sr 86 Sr measured 87 86 β 1 β ln 86Sr 88 Sr true / 86Sr 88 Sr [] measured /ln 86 88 ln 0. 1194/ 86Sr 88 Sr [] measured /ln 86 88 2 首先根据式 2 计算出质量歧视因子 β, 再将 β 代入式 1 中对测试的87Sr/86Sr 进行质量歧视校正。 在准确扣除各种干扰的前提下, 该方法可以获得较 满意的结果。Kimura 等[39 ]采用了一种新的方法进 行质量歧视校正。使用上述校正方法他们测试的斜 长石的87Sr/86Sr 比值比溶液法获得的结果高出 100 10 -6 ~ 300 10 -6。认为是23 Na60Ni 的干扰造成 Kr 扣除不准确所引起的。他们利用87Sr/86Sr 和 84Sr/86Sr的相关关系建立了线性校正方程, 对经过指 数法则校正后的87Sr/86Sr 比值再次进行校正, 较好 地改善了分析的准确度 与 TIMS 测试结果的偏差 小于 50 10 -6 。然而该方法损失了84Sr/86Sr 比值, 在其他研究中84Sr/86Sr 比值经常被用来评价 Sr 同 位素质量歧视校正的准确性。 3两种微区 Sr 同位素分析方法对比 表 1 列出了分别使用微钻取样 - TIMS/MC - ICPMS 和 LA - MC - ICPMS 技术测试微区 Sr 同位 素的流程、 取样参数、 对样品 Rb 和 Sr 含量的要求以 及获得的数据的精度和准确度。 表 1两种微区87Sr/86Sr 同位素分析方法对比 Table 1A comparison of two s for in- situ Sr isotope measurement 分析技术 化学 处理 样品 准备 质谱测试/样品 单点 采用直径 μm 采样深度 μm Sr 含量Rb/Sr 精度 2SD 准确度参考文献 微钻取样 - TIMS /MC - ICPMS 是约 10 天 1 h TIMS / 10 min[18 ] 200 ~2000100 ~ 2000>50 10 -6 不受限 <50 10 -6 ~100 10 -6 <50 10 -6 [ 5, 15, 26, 29] LA - MC - ICPMS否几小时3 min60 ~30050 ~200>300 10 -6 <0.02 50 10 -6 ~250 10 -6 50 10 -6 ~250 10 -6 [ 16, 25, 28, 39, 40, 43] 3. 1测样时间 两种方法一个最显著区别是微钻取样法需要进 行化学处理, 而激光剥蚀法不需要进行化学处理。 这导致了微钻法测样周期要显著长于激光剥蚀法。 就样品准备而言, 微钻取样法需要约十天的时间来 溶解分离样品, 而激光剥蚀法大概只需数小时即可 完成样品靶的准备。同时在测试阶段, 激光剥蚀法 单点所需的测试时间也显著小于微钻取样法在溶液 状态下所需的测样时间。因此从分析效率的角度上 来看, 激光剥蚀法具有显著的优势。 3. 2空间分辨率 空间分辨率方面, Siebel 等[5 ]采用的空心钻头 取样直径为 0. 5 ~ 2 mm, 深度小于 2 mm。而 Charlier 等[26 ]采用的实心钻头取样直径可小至 200 μm 以内, 深度可控制到100 μm。总体来说, 微钻取 样法的空间分辨率不高, 还无法分析小于约 100 ~ 500 μm 的矿物结构。目前大多数激光剥蚀法采用 的束斑直径约 60 ~300 μm, 剥蚀深度 50 ~200 μm, 其主要受控于样品 Sr 的含量。对于高 Sr 含量的样 品 如珊瑚、 磷灰石 可使用较小的束斑, 而对于 Sr 含量较低的样品 如玄武质玻璃、 单斜辉石 必须采 用较大的束斑, 才能获得足够高的样品测试信号。 总体而言, 激光剥蚀法的空间分辨率要优于微钻取 样法。 3. 3分析精度和准确度 微钻取样法通过化学处理可分离浓缩样品的 Sr, 因此该方法对样品的 Sr 含量的要求比较低, 而且对 于Rb 含量较高的样品经过化学分离后也可以获得可 信的 Sr 同位素数据。激光剥蚀法的采样量比较小, 需要样品具有较高的 Sr 含量 >300 10 -6 以保证 916 第 5 期张乐, 等 微钻取样 - TIMS/MC - ICPMS 和 LA - MC - ICPMS 分析矿物岩石87Sr/86Sr 比值的技术比较第 33 卷 ChaoXing 足够高的信号。同时由于不能进行化学分离, 目前的 方法大多局限于 Rb/Sr 比值小于0.02的样品, 对于高 Rb 样品 如钾长石 目前还没有建立有效的校正方 法。微钻取样法通过化学处理, 可分离掉 Sr 同位素 分析时的干扰元素 如 Rb 和 Ca , 因此该方法可获得 较好的数据精度和准确度。而激光剥蚀法不仅不能 通过化学处理分离掉样品自身的干扰, 还会受到来自 工作气体中 Kr 的干扰影响。只有对于那些干扰元素 含量较低的样品 如珊瑚、 碳酸盐矿物 可获得较好的 精度 <50 10 -6 。而那些 Sr 含量不高又含有一定 干扰的样品 如斜长石、 单斜辉石、 熔体包裹体 分析 误差最大超过 200 10 -6, 且与溶液法获得的结果偏 差可达到200 10 -6。 通过以上对比可知, 微钻取样法是获取高精度 微区 Sr 同位素的首选方法。然而如果需要对大量 样品进行测试, 同时 100 10 -6 ~ 200 10 -6的分析 误差可以满足分析需求, 激光剥蚀法是最省时的方 法。前面提到的两种方法的局限性也即是未来需要 深入探索的问题。例如如何在不影响流程空白、 分 离效率的前提下提高化学处理效率。改进微钻取样 技术, 减小取样直径和深度以提高空间分辨率。对 于激光剥蚀法需要提高仪器灵敏度以满足低 Sr 含 量样品的分析, 继续探索 Kr、 Rb 和二价 REEs 等干 扰校正问题, 提高干扰元素含量较高样品的分析精 度和准确度。 4两种微区技术分析 Sr 同位素的应用 4. 1地质年代学方面的应用 Rb - Sr 体系作为最经典的同位素体系之一, 被 广泛应用于岩浆岩和变质岩的年代学研究。Zhu 等[7 ]采用微钻取样 - TIMS 方法对分选自河南合峪 花岗岩体中的钾长石进行了 Rb - Sr 年代学研究。 图 4 是该研究对来自样品 08HN56 中的一颗钾长石 斑晶的定年结果。可以看到, 在这个钾长石晶体 内87Rb/86Sr 具有较大的变化范围 约 0. 8 ~ 2. 3 。 因此, 经过长时间的同位素衰变, 该钾长石的不同部 位现今的87Sr/86Sr 也具有较大变化范围 约 0. 7083 ~0. 7107 。这些不同部位的同位素比值展现出较 好的线性关系, 构成了一条 Rb - Sr 同位素等时线。 等时线年龄为 123 8 Ma。Zhu 等[7 ]同时对合峪 花岗岩体进行了锆石 U - Pb 定年, 给出了两期年龄 约 150 Ma 和约 140 Ma 。钾长石 Rb - Sr 等时线 获得的年龄略小于锆石 U - Pb 法获得的年龄, 这可 能是钾长石封闭温度没有锆石的封闭温度高造成 的。显然如果将这颗钾长石全部粉碎, 用传统方法 进行测试只能获得一个同位素比值, 也就无法反映 出晶体内的不均一性, 也就无法对单个钾长石构建 Rb - Sr 等时线。 图 4钾长石 Rb - Sr 等时线 转自参考文献[ 7] 的图 6 Fig. 4Rb- Sr isochron diagram of a single K- feldspar crystal from Reference[ 7] ,Fig. 6 4. 2开放岩浆体系研究 示踪岩石等的物质来源, 研究岩浆体系的演化 是 Sr 同位素研究的另一个重要方面。Ramos 等[50 ] 使用 LA - MC - ICPMS 方法分析了 Columbia River 玄武岩中的斜长石斑晶和基质的 Sr 同位素组成。 结果显示大多数斜长石斑晶都具有87Sr/86Sr 的环 带, 且其 Sr 同位素组成与基质的存在较大差异 图 5 。 图 5Columbia River 玄武岩中的斜长石斑晶和基质的 Sr 同 位素组成 修改自参考文献[ 50] 的图 2 Fig. 5The Sr isotopic composition of a plagioclase crystal and its host groundmass in Columbia River basalt modified from Reference[ 50] ,Fig. 2 026 第 5 期 岩矿测试 http ∥www. ykcs. ac. cn 2014 年 ChaoXing Sr 同位素的不平衡暗示了岩浆在上升过程中 可能受到了地壳物质的混染。一维扩散模拟表明在 岩浆体系下这种 Sr 同位素不平衡现象最多只能维 持 5 ~50 年, 暗示地壳混染发生在岩浆喷发前的短 时间内。而对于 Columbia River 玄武岩 熔体 斜 长石 而言, 只记录了岩浆在喷发前或者喷发时的 地球化学特征, 是岩浆演化过程中各种地质过程 如分离结晶、 岩浆混合和地壳混染等 的综合结 果。显然, 仅仅分析全岩地球化学是很难识别这些 地质过程的。 5结语 微钻取样 - TIMS/MC - ICPMS 和 LA - MC - ICPMS 作为分析地质样品微区 Sr 同位素组成的有 效手段已得到了较为广泛的应用。相对于传统全岩 Sr 同位素研究, 微区 Sr 同位素可以揭示样品自身存 在的不均一性, 更好地反映样品经历的地质过程。 然而目前的微区 Sr 同位素分析方法还存在许多不 足, 还有很大的改善空间。对于微钻取样法而言, 未 来应将改进化学流程作为重点研究方向, 提高化学 处理效率。同时需要改善微钻取样法的取样技术, 减小取样直径和深度以提高空间分辨率。对于激光 剥蚀法而言, 应重点突破 Kr、 Rb 和二价 REEs 等干 扰校正问题, 提高干扰元素含量较高的样品的分析 精度和准确度。同时需要提高仪器灵敏度以满足低 Sr 含量样品的分析。 6参考文献 [ 1]Steiger R H,Jger E. 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