提供专业的X射线衍射_荧光分析测试服务 承接地质样品的分析测试委托 专业快捷-方便经济.pdf

提供专业的X射线衍射／荧光 分析测试服务 承接地质样品 的分析测试委托 专业快捷 一 方便经济 X射线衍射／荧光分析方法简便，特别适用于粉术矿物样品的测定 如确定类质同象混晶（固溶体）的成分；鉴别成分 相同但结构上有差异的矿物类型；测定矿物的有序 一无序结构及其有序度 ；确定同一矿物族的不同矿物种、矿物的元素组 成等。自20世纪初X射线粉末衍射／荧光元素分析技术白 ‘次H 现后，科学家们就开始收集已知物相的衍射图谱。目前数 据库中已收录了25 861条以上的矿物相关条目，覆盖了95以上的分类矿物种类。数据库还包含将要分类的矿物、合成、 夹层和固熔体等不同的物质类型，，通过一系列的温度和压力参数，标定了许多普通矿物的性质。二正是这些工作使得X射 线粉末衍射文件 PDF的有效性得到了国际范围的广泛认可。 X射线衍射／荧光元素分析技术冈分析成本低、对样品尤损 、数据稳定、权威性高等特点，正逐步发展成为一项普遍开 展的常规分析方法。 ，北京北达燕园微构分析测试中心（国家计量认证编号2003010413K）开展商业化X射线衍射／荧光分 析测试服务。中心拥有一流的设备和专业的技术队伍。中心同时开展北京大学大型科学仪器的社会化中介服务。 样品分析流程电话联系 EMS（快递用户样品）电话核实签订委托测试合同 完成分析测试E- mail/传真／快递 分析测试报告。 一般样品3 个工作日内完成分析测试。分析测试收费标准每样品90 400元。 联系方式北京市海淀区中关村北大街1 16号（邮编100871） 北京人学科技同孵化器2号楼 21 12率 电 话010 - 58874029/58874028 转800分机 网 址http∥www ．msal. net E- mail msal msal．nel 联系人张常颖 北京北达燕园微构分析测试中心开展的分析项日 ┏━━━━━━━┳━━━━━━━━━━━━┳━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━┳━━━━━━━━━━━┓ ┃ 产品 ┃ 参数名称 ┃ 检测标准（ 方法）名称 ┃ 标准方法编号 ┃ ┃ 类别 ┃ ┃ ┃ ┃ ┣━━━━━━━╋━━━━━━━━━━━━╋━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━╋━━━━━━━━━━━┫ ┃ ┃ 晶胞参数 ┃ 矿物晶胞参数的测定粉末X射线衍射法 ┃ l/T 553-1991 ┃ ┃ ┣━━━━━━━━━━━━╋━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━╋━━━━━━━━━━━┫ ┃ ┃ 全岩矿物组成分析 ┃ 多晶体X射线衍射法通则 ┃ JY/T 009-1996 ┃ ┃ ┣━━━━━━━━━━━━╋━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━╋━━━━━━━━━━━┫ ┃ ┃ 矿物原料分析 ┃ 多晶体X射线衍射法通则 ┃ JY/T 009-1996 ┃ ┃ ┣━━━━━━━━━━━━╋━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━╋━━━━━━━━━━━┫ ┃ ┃ 沉积岩物相分析 ┃ 沉积岩粘土矿物相划含量X射线衍射分析方法 ┃ SY/T 5163-1995 ┃ ┃ 矿物 ┃ ┃ ┃ ┃ ┃ ┣━━━━━━━━━━━━╋━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━╋━━━━━━━━━━━┫ ┃ ┃ 沉积岩物相分析 ┃ 沉积岩【 |，粘土矿物总量和常见非粘七矿物X射线衍射定量分析方法 ┃ SY/T 6210-1996 ┃ ┃ ┣━━━━━━━━━━━━╋━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━╋━━━━━━━━━━━┫ ┃ ┃ 伊利石／蒙皂石l训层矿物 ┃ 伊利石／蒙皂石问层矿物；X射线衍射鉴定方法 ┃ SY/T 5983-19942002 ┃ ┃ ┣━━━━━━━━━━━━╋━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━╋━━━━━━━━━━━┫ ┃ ┃ d - Al703 ┃ 刚舌磨料中d - Al203丰 【1 X射线定量测定方法 ┃ CB/T I4321-1993 ┃ ┃ ┣━━━━━━━━━━━━╋━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━╋━━━━━━━━━━━┫ ┃ ┃ 水沉积物 ┃ 用X射线衍射法作水沉积物中结晶化合物的以别办法 ┃ ASTM D 934-1980 ┃ ┣━━━━━━━╋━━━━━━━━━━━━╋━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━╋━━━━━━━━━━━┫ ┃ ┃ 晶型分析和晶体粒度 ┃ 纳米二氧化钛 ┃ CB/T 19591-2004 ┃ ┃ 二氧化钛 ┃ ┃ ┃ ┃ ┃ ┣━━━━━━━━━━━━╋━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━╋━━━━━━━━━━━┫ ┃ ┃ 成分分析 ┃ X射线衍射法测定二氧化钛颜料中锐钛和金红行比率的试验方法 ┃ ASTM D 3720-1990 ┃ ┣━━━━━━━╋━━━━━━━━━━━━╋━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━╋━━━━━━━━━━━┫ ┃ ┃ 催化剂 ┃ 多晶体X射线衍射法通则 ┃ J Y/T 009-1996 ┃ ┃ ┣━━━━━━━━━━━━╋━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━╋━━━━━━━━━━━┫ ┃ 石油及丰 关 ┃ 石油焦 ┃ 铝生产中使用的碳素材料；煅烧焦炭；用X射线衍射法测定煅烧台汕焦的晶体粒度 ┃ IS0 20203-2005 ┃ ┃ ┣━━━━━━━━━━━━╋━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━╋━━━━━━━━━━━┫ ┃ 产品 ┃ 硫 ┃ 原油巾硫含量的测定；能量色散X射线荧光光谱法 ┃ CB/T 17606-1998 ┃ ┃ ┣━━━━━━━━━━━━╋━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━╋━━━━━━━━━━━┫ ┃ ┃ 硫 ┃ 汽油中硫含量的测定法 ┃ SH/T 0742-2004 ┃ ┣━━━━━━━╋━━━━━━━━━━━━╋━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━╋━━━━━━━━━━━┫ ┃ ┃ 层状结品二硅酸钠 ┃ 层状结晶二硅酸钠试验力 ‘法 ；6相层状结晶磷酸钠定性分析；X射线衍射仪法 ┃ CB/T 19421. 1-2003 ┃ ┃ ┣━━━━━━━━━━━━╋━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━╋━━━━━━━━━━━┫ ┃ ┃ 1 - Al203 ┃ 硅铝催化剂巾1 - AI203含量测定法（ X射线衍射法） ┃ SH/T 0625-1995 ┃ ┃ ┣━━━━━━━━━━━━╋━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━╋━━━━━━━━━━━┫ ┃ ┃ 成分测定 ┃ 含4A沸石洗衣粉 ┃ QB 1767-93 ┃ ┃ ┣━━━━━━━━━━━━╋━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━╋━━━━━━━━━━━┫ ┃ ┃ 硅砖定量相分析 ┃ 硅砖定量棚分析；X射线衍射法 ┃ Y B/T 172-2000 ┃ ┃ ┣━━━━━━━━━━━━╋━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━╋━━━━━━━━━━━┫ ┃ 硅酸盐／陶瓷 ┃ 伽马铝矾土 ┃ 用X射线粉末衍射法对触煤剂中含硅和铝矾土的触煤剂中 伽 ，5铝T 土含量的试验力 ‘法 ┃ ASTM D 4926-2006 ┃ ┃ ┣━━━━━━━━━━━━╋━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━╋━━━━━━━━━━━┫ ┃ ┃ 水泥和水泥熔渣阶段比 ┃ 用X射线粉末衍射分析法测定f砖酸盐水泥和硅酸盐水泥熔渣阶段比的标准试验力 ’法 ┃ ASTM C 1365-2006 ┃ ┃ ┣━━━━━━━━━━━━╋━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━╋━━━━━━━━━━━┫ ┃ ┃ 水泥X射线荧光分析 ┃ 水泥X射线荧光分析通则 ┃ CB/T 19140-2003 ┃ ┃ ┣━━━━━━━━━━━━╋━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━╋━━━━━━━━━━━┫ ┃ ┃ 陶瓷丰 口分析 ┃ 高级T业陶瓷；陶瓷粉；锆品相的测定 ┃ RS DD F.NV 14273-2002 ┃ ┃ ┣━━━━━━━━━━━━╋━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━╋━━━━━━━━━━━┫ ┃ ┃ 相成分及结晶度 ┃ 羟基磷灰石牛物陶瓷 ┃ VY 0305-1998 ┃ ┣━━━━━━━╋━━━━━━━━━━━━╋━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━╋━━━━━━━━━━━┫ ┃ 表面分析 ┃ 硅片表面元素污染物 ┃ 表面化学分析；采用全反射X射线荧光 TXRF光谱法对硅片表面元素污染物的测定 ┃ BS JS0 14706-2001 ┃ ┣━━━━━━━╋━━━━━━━━━━━━╋━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━╋━━━━━━━━━━━┫ ┃ 元素分析 ┃ 部分参数 ┃ TXRF 原理和定义 ┃ DlN 51003 ┃ ┣━━━━━━━╋━━━━━━━━━━━━╋━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━╋━━━━━━━━━━━┫ ┃ ┃ 结构鉴别 ┃ 多晶体X射线衍射法通则 ┃ JY/T 009-1996 ┃ ┃ 医药 ┃ ┃ ┃ ┃ ┃ ┣━━━━━━━━━━━━╋━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━╋━━━━━━━━━━━┫ ┃ ┃ 指纹谱分析 ┃ 多晶体X射线衍射法通则 ┃ JY f r 009-1996 ┃ ┗━━━━━━━┻━━━━━━━━━━━━┻━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━┻━━━━━━━━━━━┛ ChaoXing