提供专业的X射线衍射_荧光分析测试服务承接地质样品的分析测试委托：专业快捷-方便经济.pdf

提供专业的 X 射线衍射/荧光分析测试服务 承接地质样品的分析测试委托专业快捷 － 方便经济 X 射线衍射/荧光分析方法简便， 特别适用于粉末矿物样品的测定。如确定类质同象混晶 固溶体 的成分; 鉴别成分 相同但结构上有差异的矿物类型; 测定矿物的有序 － 无序结构及其有序度; 确定同一矿物族的不同矿物种、 矿物的元素组 成等。自 20 世纪初 X 射线粉末衍射/荧光元素分析技术首次出现后， 科学家们就开始收集已知物相的衍射图谱。目前目前数数 据库据库中中已已收收录了录了 2586125861 条以上条以上的的矿矿物物相关条目相关条目，， 覆盖了覆盖了 9595 以上以上的分的分类矿类矿物物种类种类。。数据库还包含将要分类的矿物、 合成、 夹层和固熔体等不同的物质类型。通过一系列的温度和压力参数， 标定了许多普通矿物的性质。正是这些工作使得 X 射 线粉末衍射文件 PDF 的有效性得到了国际范围的广泛认可。 X 射线衍射/荧光元素分析技术因分析成本低、 对样品无损、 数据稳定、 权威性高等特点， 正逐步发展成为一项普遍开 展的常规分析方法。北京北达燕园北京北达燕园微微构构分析测试中分析测试中心心 国 国家计量认证编号家计量认证编号2003010413K2003010413K 开展商业化开展商业化 X X 射射线线衍射衍射/ /荧荧光分 析测试 光分 析测试服务服务。。中中心拥有一流心拥有一流的的设设备和备和专业专业的的技术队技术队伍伍。。中中心同心同时时开展北京开展北京大学大型科学大学大型科学仪器的仪器的社会社会化化中中介介服务服务。。 样品分析样品分析流流程程 电话联电话联系系 ＞ EMS＞ EMS 快递快递用用户户样品样品 ＞ ＞ 电话核电话核实实签订委托签订委托测试测试合合同同 ＞ ＞ 完成完成分析测试分析测试 ＞ E － mail/＞ E － mail/传真传真/ /快递快递 分析测试分析测试报告报告。。一一般般样品样品 3 3 个个工作工作日日内内完成完成分析测试分析测试。。分析测试收分析测试收费费标标准准 每每样品样品 90 ～40090 ～400 元元。。 联系方式 北京市海淀区中关村北大街 116 号 邮编 100871北京大学科技园孵化器 2 号楼 2112 室 电话 010 －58874029/58874028 转 800 分机 网址 http ∥www． msal． netE － mail msal msal． net联系人 张常颖 北京北达燕园微构分析测试中心开展的分析项目 产品 类别 参数名称检测标准 方法 名称标准方法编号 矿物 晶胞参数矿物晶胞参数的测定粉末 X 射线衍射法J/T 5531991 全岩矿物组成分析多晶体 X 射线衍射法通则JY/T 0091996 矿物原料分析多晶体 X 射线衍射法通则JY/T 0091996 沉积岩物相分析沉积岩粘土矿物相对含量 X 射线衍射分析方法SY/T 51631995 沉积岩物相分析沉积岩中粘土矿物总量和常见非粘土矿物 X 射线衍射定量分析方法SY/T 62101996 伊利石/蒙皂石间层矿物伊利石/蒙皂石间层矿物; X 射线衍射鉴定方法SY/T 59831994 2002 α －Al2O3 刚玉磨料中 α －Al2O3相 X 射线定量测定方法 GB/T 143211993 水沉积物用 X 射线衍射法作水沉积物中结晶化合物的识别方法ASTM D 9341980 二氧化钛 晶型分析和晶体粒度纳米二氧化钛GB/T 195912004 成分分析X 射线衍射法测定二氧化钛颜料中锐钛和金红石比率的试验方法ASTM D 37201990 石油及相关 产品 催化剂多晶体 X 射线衍射法通则JY/T 0091996 石油焦铝生产中使用的碳素材料; 煅烧焦炭; 用 X 射线衍射法测定煅烧石油焦的晶体粒度ISO 202032005 硫原油中硫含量的测定; 能量色散 X 射线荧光光谱法GB/T 176061998 硫汽油中硫含量的测定法SH/T 07422004 硅酸盐/陶瓷 层状结晶二硅酸钠层状结晶二硅酸钠试验方法; δ 相层状结晶二硅酸钠定性分析; X 射线衍射仪法GB/T 19421．12003 γ －Al2O3 硅铝催化剂中 γ －Al2O3含量测定法 X 射线衍射法 SH/T 06251995 成分测定含 4A 沸石洗衣粉QB 176793 硅砖定量相分析硅砖定量相分析; X 射线衍射法YB/T 1722000 伽马铝矾土用X 射线粉末衍射法对触煤剂中含硅和铝矾土的触煤剂中伽马铝矾土含量的试验方法ASTM D 49262006 水泥和水泥熔渣阶段比用X 射线粉末衍射分析法测定硅酸盐水泥和硅酸盐水泥熔渣阶段比的标准试验方法ASTM C 13652006 水泥 X 射线荧光分析水泥 X 射线荧光分析通则GB/T 191402003 陶瓷相分析高级工业陶瓷; 陶瓷粉; 锆晶相的测定BS DD ENV 142732002 相成分及结晶度羟基磷灰石生物陶瓷YY 03051998 表面分析硅片表面元素污染物表面化学分析;采用全反射X 射线荧光 TXRF 光谱法对硅片表面元素污染物的测定BS ISO 147062001 元素分析部分参数TXRF 原理和定义DIN 51003 医药 结构鉴别多晶体 X 射线衍射法通则JY/T 0091996 指纹谱分析多晶体 X 射线衍射法通则JY/T 0091996 013 ChaoXing