X射线测厚影响因素分析、技术进展及其在冶金工业中的应用（上）.pdf

第3 5卷第1期 2 0 1 1年 1月 冶 金自 动 化 Me t a l l u r g i c a l I n d u s t r y Au t o ma t i o n Vo 1 ． 3 5 No． 1 J a n ． 2 0 1 1 综 述 与评 论 X射 线测厚影 响 因素分 析 、 技术进展及 其 在冶金工业 中的应用 上 玛 娥 冶金 自动化研究设计 院， 北 京 1 0 0 0 7 1 摘要 主要叙述 X射线测厚仪的工作原理， 分析射线强度、 统计误差以及被测物的材质、 温度 、 表面附着水层 、 倾 斜角度等对测厚精度的影响及其克服方法。叙述包括 x射线管、 检测元件、 控制电路、 测量方式以及计算机应 用等的进展。最后介绍 x射线测厚仪的组成 、 主要性能的实例和在国内的使用情况， 说明建立 X射线测厚仪产 业 的必要性并给 出建立方法 的建议。 关键词 X射线测厚仪 ； 厚度控制 ； 板形 中图分类号 T H 7 4 4 ． 1 5文献标 志码 A文章编 号 1 0 0 0 7 0 5 9 2 0 1 1 0 1 - 0 0 0 1 - 0 5 I n flue nc e f a c t o r a n a l y s i s a n d t e c hni c a l pr o g r e s s o f X- r a y t h i c kn e s s me a s u r e me n t a n d i t s a p p l i c a t i o n i n me t a l l u r g i c a l i n d u s t r y A MA Zh u WH A u t o m a t i o n R e s e a r c h a n d D e s i g n I n s t i t u t e o f M e t a l l u r g i c a l I n d u s t r y ， B e i j i n g 1 0 0 0 7 1 ， C h i n a Ab s t r a c tP r i n c i p l e o f X r a y t h i c k n e s s me a s u rin g me t e r i s i n t r o d u c e d． I n fl ue n c e o f r a y i n t e n s i t y， s t a t i s t i c e r r o r ， di f f e r e n t ma t e ria l ， t e mp e r a t ur e， s u r f a c e wa t e r l a y e r a n d i n c l i n a t i o n a n g l e e t c ． a r e a n a l y z e d， a n d s o l u t i o n me t h o d i s g i v e n． Be s i de s， p r o g r e s s i n X r a y t u b e， me a s u r i n g c e l l ， c o n t r o l c i r c u i t ， me a s u r i n g me t ho d a nd c o mp ut e r a pp l i c a t i o n e c t ． a r e p r e s e n t e d．Co mp o s i t i o n， ma i n f u n c t i o n s a nd u s e e x p e r i e n c e o f X r a y t h i c k n e s s me t e r a r e d e s c r i b e d．At l a s t ， n e c e s s i t y a nd h o w t o e s t a b l i s h X r a y t h i c k n e s s me t e r i nd u s t ry a r e s ug g e s t e d ． Ke y wo r ds X r a y t h i c kn e s s me t e r ； t h i c k n e s s c o n t r o l ； s h a p e 0 引言 金属板带厚度是板带加工尺寸质量和用户需 求的重要指标之一 ， 也是工业生产 中质 量管理的 主要指标之一。厚度 自动控制是现代金属轧制生 产 中不可缺少 的重要组成 部分 ， 具有精确厚度 的 产 品不仅在激烈 的市场竞 争 中处于有利地位 ， 而 且能够带来高附加值的经济效益。 获得精确厚度产品的前提是必须能进行厚度 的精确检测 。由于非接触法厚度测量具备不会划 伤产品等一 系列优点 ， 特别是其测厚方法可用 于 恶劣的工业生产过程环境 、 高速轧制并具有高精 确度 ， 因而被广泛应用 。其中 x射线测厚方法与 使用同位素的射线测厚 方法相 比， 更具有 高精度 如德国 I MS公司的 x射线 测厚仪测量精度 能达 到 1 ％ v 、 可以通过单独设定高压对辐射进行最优 调整 、 停止高压给定后放射立 即停止而没有任何 残余辐射等优点 ， 加之近年来 x射线测厚技术的 发展克服 了过去的许多缺点而被广泛应用于钢铁 和包括铜 、 铝等有色金属 的板带厚度 测量与控制 中。本文将对其中的几个重要问题进行阐述 。 1 X射线测厚原理与影 响因素分析 穿透式 X射线测厚仪测厚原理如图 1 所示 。 收稿 日期 2 0 1 0 4 5 - 2 0 ； 修 改稿收到 日期 2 0 1 0 -0 9 - 2 0 作者简介 马竹梧 1 9 3 1 一 ， 男 ， 广东广 州人 ， 教授级高级丁程师 ， 主要从事冶金 A动化方面的研 究及应用工作 。 2 冶 金自 动 化 第3 5卷 图 1 单通道 X射 线测厚仪原理框图 Fi g． 1 Pr i n ci p l e bl o c k di a g r a m f o r s i n g l e c ha n n e l X r a y t h i c kn e s s n l e t e l “ 卜 测得 的透过被测物的 X射线强度 ； 一初始发射 X射 线强度 基于当 x射线穿过物体时射线强度将被削弱 的事实 ， 可根据探头测量出的 x射线的强弱， 得到 被测物体的厚度 ， 其关系如下 ， I o e I o e 1 式 中， 厶与 x射线管的高电压成函数关 系； 为 被测物质的质量吸收系数 ， 取决于材质， 并与 X射 线管上的高电压成 函数关系； p为被测物 质的密 度； d为被测物体 的厚度； 为被测物质的吸收系 数 。 对式 1 进行整理可得 d I n I ／ 1 o 或 dI n I n， 一1 n I o 2 由式 2 可见， 虽然被测物体的厚度与 x射线 强度关系似乎很简单 ， 但测得的 x射线强度与如 下很多因素有关。 1 不同厚度的被测物体要有一个最合适的 入射前 x射线强度 ， n 。如果 x射线强度过低 ， 检 测到的穿过被测物体后的 x射线强度太小 ， 信号 不明显 ； 而强度过大， 当带材厚度发生变化 时， 检 测到的信号变化不明显， 也影响测量精度 。当被 测物的厚度 d有 A d的变化时 ， 由式 1 可换算得 到式 3 ， 以求出 △ ， 。 AI 一／ x ． o d I o e A d ／ d 3 由式 3 可见 ， 当 t x ． ,p d 1时， △ ， 达 到最 大 值 ， 即得到最佳的检测灵敏度 ， x射线测厚仪的射 线能量可以随着 x射线管的电压而变化， 故测定 范围内 的所 有 厚 度值 都 能 选 择 到最 大 灵 敏度 d 1 。 2 射线测厚仪还具有统计误差。这是 由于 放射源放出粒子的统计涨落而引起的。通常需要 增大射线强度 以达到减小统计误差 的 目的， 但增 大放射线强度会带来安全屏蔽 困难等问题 。统计 涨落引起的误差可表示为 A d ／ d[ e ／ I x ． ,p d／ 2 ]． [ 1 ／ 2 r i o ] 4 式 中， 为测量系统和电路的时间常数。由式 4 可知， 当选择 2时， 统计误差 A d ／ d具有最 小值 ， 但考虑到式 3 所述最佳检测灵敏度的条件 后 ， 一般选 1 t x ． o d2 。由于 X射线测厚仪 的射 线束集 中和较小 ， 统计误差不大 ， 其影 响往往归结 为系统的噪音， 并在仪表允许误差范围内， 故一般 选取 I ．t o , p d l 。在实际 x射线测厚仪中， 通过不 同的测量量程， 同时相应改变 X射线管 电压达到 上述 目的。 3 由式 1 可知， 被测物体的厚度与 x射线 强度 ， n 有关 。在 x射线管中， 灼热阴极放 出的电 子 ， 在阳极电场加速下 冲向阳极靶并辐射出光量 子而发出 x射线 ， 可用式 5 表示 I o k T z 5 式中， 为比例常数 ； 为阳极材质的原子序数 ； V 为 x射线管 阳极 电压 ； i 为 x射线管 电流。由式 5 可知， 必须 良好地稳定管电压和 电流 ， 才能减 少 X射线测厚仪的漂移和噪音。 4 由式 1 可知， 测得 的 X射线强度 ， 与吸 收系数 有关 ， 原子序数不 同的物质 ， 吸收系数 也不同。物质对 x射线 的质量 吸收系数如式 6 所示 。 tx c A 6 也 可写成 ／ x c ／ 7 式 中， c 7 ． 8 21 0 一； A为 x射线波长 ； z 为被测 物的原子序数； k为常数 。即 反 比于管 电压 的 3次方 ， 正 比于被测物 的原子序数 3次方。这 应在补偿时考虑。 5 在轧制过程 中， 被测钢板表面会 附着水 、 油层或氧化皮 ， 而影响厚度测定值 ， 其误差等于此 两种物质的密度与质量吸收系数的积之比。如 x 射线能量为 5 0 k V， 此 时铁 的 值为 1 ． 7 c m ／ g ， 水 的 值为 0 ． 2 3 c m ／ g ， 则 0 ． 2 31 ／ 1 ． 7 x 7 ． 8 0 ． 0 1 7 3 mm， 即因有 1 mm厚 的水层影响 ， 测量 结果为 1 7 ． 3 Ix m。由于 x射线测厚仪一般采用按 最佳能量设定 电压 ， 即在测定不 同厚度板 材时， x 射线能量是不同的， 故不同板厚时， 因水层引起 的 误差也不一样 ， 如图2所示。 6 在轧制过程中， 被测物材质对测量结果 的 影响。X射线测厚仪厚度的刻度值通常是用既定 第1 期 马竹梧 x射线测厚影响 因素分析 、 技术进展及其在冶金工业中的应用 上 g 毒 堡 莨 ●’ ， ● 1 2 ． 5 8 ％ 板 [ ． 下同 ● ● ● 8 ． 6 6m ． ． 4．4 4 ． ． ． ● ●● ●● ． ． ． ． ． ． ／ ． ● ● ● ● o O ， ， ／ ／ 0 ．4 7l i p ． ．， ． ， ． ， ／／ ． ． ， ’． ． ， ． 一 ． ／ ‘ ．‘ ‘ o o - _’ 1 2 3 4 5 水层厚／ m m 图 2钢板表面水层 引起 的误 差 F i g ．2 Er r o r c u r v e s f o r wa t e r l a y e r o f s t e e l p l a t e s ur f a c e 材质的标准板 例如纯铁 、 不锈钢或合金 标定的 ， 当用来测定不同材质 的板 时， 由于不同材质 x射 线吸收系数的差异， 故必须对测定值进行修正 ， 如 被测物是合金 ， 则测定值的修正系数 ，如式 8 所 示 。 ， 0 ／ E p 平 均‘∑ ／ o ． ] 8 式中， 。 为标定用标准板 的线吸收系数 ； p 平 均 为合 金的平均密度 ， 为合金元素 的质量吸收系数 ； o ． 为合金元素含有重量 。 7 在轧制过程中， 被测物上下跳动和倾斜对 测定值的影响。根据 国外的研究 ， 当被 测板偏离 通过线位置时 ， 厚度测定结果会产生负偏差 ； 当被 测板倾斜时 ， 使得沿测 量线束方 向板 的几何厚度 增大 ， 同时 x射线散射情况也发生改变， 其结果是 厚度测定产生正偏差。这两种情况对测定值的影 响见图 3和图 4 。 型 - 4 o 陟 一6 O 测定空间 7 5 0mm x射线管与 电离室距离 - ． - ． ． ． ’ ， ， _● ●● ● - ●● ● ’ ● -- ● - ●● ●- ● 。 ● ●● 。 5 _2 8 n l l i ‘ ’ ‘ ’ ● - ‘ ● ● ● 1 2 ． 1 1 r 1 1 1 1’ ． 0 2 0 4 0 6 O 8 O 1 O O 通过线高／ m m 图 3因被测物位置 变动引起的误差 F i g ． 3 E rr o r c u r v e s f o r p o s i t i o n c h a n g e o f m e a s u r e d o b j e c t 当测厚仪校准位置与轧制线高度和角度不一 致时， 厚度误差公式为 5 0 0 4 0 0 3 00 堡 2 00 1 0 H0 ， ． ． ． 6 ． 2 1 2 ． 】 1 mm o o ．， ． ． ． ， ’． ， 0 5 1 0 1 5 2 O 倾斜 角度， 。 图 4因被测板倾斜 引起 的误差 F i g ． 4 Er r o r C U I N e S f o r i n c l i n a t i o n o f me a s u r e d p l a t e dd 0 b h c o s 0 9 式中， d 。为测厚 仪 测量 厚度 ； b为轧 制线计 算 常 数 ； h为轧制线高度偏差 ； 0为轧制线偏离角度 。 由于 x射线测厚仪 的测定空间高度 由射线 出射孔至检测 器入射孔 之间 很 大， 冷 轧时约 为 3 0 0 m m， 热轧时为 7 0 0～2 1 0 0 mm， 因此若测定线 束采用准直 ， 则散射较小 ， 被测物通过线束位置变 化 包括跳动和倾斜 误差较小 。 8 在热轧过程 中， 测量时的带钢 是热态 ， 而 实际需要的是冷态 常温 2 0 o C 值 ， 因此必须把热 态的厚度转化为冷态值 ， 此外轧制 时， 温度也会变 化 ， 所以需要测量带 钢温度并进行如下 的温度补 偿。 当钢板在 不同温度时 ， 单位 面积原子数分别 为 Ⅳ， Ⅳ n ， 则 N N o 1 一 △ 1 0 式中， O t 为线性膨胀系数 ； △r为钢板的温度差。 式 1 0 中 ， O l A 项可 以忽 略 ， 则原 子数 比 为 N ／ N o 1 2 c AT 1 1 即在高温时 ， 必须对“一2 a AT ” 进 行补正 ， 在 热轧钢带过程 中， 当钢板温度为 7 0 0 o C时 ， 大致需 补正 2 ． 1 ％ 。轧钢时 ， 板材温度随钢种和轧制条件 变化 ， 如终轧温度变化 5 0 o C时 ， 厚度测量误差约 0． 1 ％～0 ．1 5％ 。 9 X射线 途径线路 上的环境温度影 响。x 射线从发射装置到接收装置 的途径 中受到周 围环 境温度 、 湿度 的影 响， 特别是热轧 ， 由于测量空问 大而影响较大。当环境温度上升时， 测量值减小 ； 当环境温度下降时 ， 测量值增加 。对 空气而言， 每 升高 1 0℃ ， 空气的面积重量将减少 4 ． 7 g ／ m ； 而对 ∞ ∞ 加 ∞ 鲫 ∞ ∞ 加 o 4 冶 金自 动 化 第3 5卷 测金属板而言， 影响可用下式表示 D D 。 d ， 一T k ／ p 式中， D 为 x射线从发射装置到接收装置的距离 之问空气 厚度的变化转换 为待测金属 的厚度 变 化 ； D 为 x射线从发射装置到接收装置的距离 ； 7 1 h 为 x射线从发射装置到接收装置途径中 即测 量空间 的设定 空气温度 ； T 为 x射线从发射装 置到接收装置途径中的实际空气温度 。 2 x射线测厚仪的技术进展 我国的现代 x射线测厚 仪大多是从 国外 引 进 ， 钢铁工业最早是在 2 0世纪 7 O年代武钢 1 7 0 0 工程 ， 其热连轧带钢使用的是 2台 日本东芝公 司 产品 T O S G A G E 一 3 0 6型产品 ， 一台测量成品纵向误 差 ， 另一台是横 向来 回移动 ， 测量钢带横 向厚度 差 ， 都是 2 O世纪 6 0年代末 7 0年代的产 品， 虽然它 成功地用于全线 自动化系统并起到保证产 品质量 的关键作用 ， 但在过去还是 由于产品价格 高甚 至 在一些 A G C系统 中也没有采用。但到现在 ， 由于 科学技术的发展 ， 采用电子计算机技术 ， 特别是单 点测量发展成多通道测量等 ， 因此把 x射线测厚 仪推向了更高水平 ， 得到了如下 的技术进展 ， 已成 为工业控制与质量控制和在激烈市场竞争 中必不 可少的测量仪表。 1 测定方式 的进步。X射线测厚仪测定方 式有单通 道式 图 1 和 双通道式 图 5是 武钢 1 7 0 0热连轧 7 0年代 的双通道方式 x射线测厚仪 原理框 图 两种。前者是对透过 x射线的强度直 接检测并将其作为厚度输出。后者是把 x射线一 分为二， 一束作为检测用 ， 射入到材料 中， 另一束 图 5 双通道方式 x射线测厚仪原理框 图 Fi g ． 5 Pr i n c i p l e b l o c k di a g r a m f o r d o ub l e c h a nn e l X r a y t hi c k n e s s n l e t e r 作为参比用， 透过伺服驱动 的标准楔 把两束射 线透过后的强度进行比较 ， 求出厚度偏差。 x射线测厚仪最主要 的误差是由 x射线强度 受 x射线管阳极 电压和电流不稳定而引起 的， 过 去认为双通道测定方式可互为补偿 以消除或减弱 X射线不稳定和两路检测系统共 同不稳定 因素而 引起的零点漂移以及仪 表灵敏度 的变化 ， 因而精 度较高 。故 7 O年代中期 以前 ， 普遍采用双通道测 定方式 ， 测厚仪检测范围为0 ． 1 ～1 6 mm， 精度为满 刻度的0 ． 5 ％， 时间常数为 0 ． 0 2 S ， 漂移在 8 h内为 0 ． 2 ％。但 由于双通道与单通道测定方式相 比， 其 缺点为 由于需要维持测量与设定检 测器的平衡 而使射线强度减小 、 设 定精度 受标准 楔加工精度 和设定位置精度所限制 、 响应性能差 单通道的时 问常数小 于 0 ． 0 1 S 、 构造较 复杂 因而价 格也较 贵。现在 由于电子技术 和控制技术等 的进步 ， 单 通道方式 已克服了它本身 的缺点 ， 且 没有双通道 测定方式的缺点， 如 x射线管 由交流供电改为直 流供电， 阳极电压和 电流的稳定度 能控制在 l 0 ～ 1 0 或更高 ， 因而可以消除或减弱 x射线的不稳 定 ， 有些公司的产 品还采用 了 A C E 自动能量补偿 技术 ， 即自动提高 x射线的强度 以消除因元件老 化等原因造成 的系统测量精度下降 ； 采用标准板 进行标定而比标准楔简单 ， 使整个结构更简单 ， 因 而现在生产的 x射线测厚仪已全部使用单通道测 定方式。 2 数字计算技术和微处理机 的应用 ， 使测量 精度大大提高。正如上节分析那样 ， 除 x射线管 电压 、 电流 以外 ， 影响测量精度 因素很多， 过去 由 于采用运算放大器 、 晶体管等组成的模拟式 电路， 因此很难把误差 因素一一加 以补偿 ， 对更复杂的 补偿公式更是无能 为力， 如 日本东芝 T O S G A G E 一 3 0 6型 x射线测厚仪 ， 仅仅在其偏差放大器设有 材质补偿的电位器 ， 可进行按标准板来手动调整 以进行简单的补偿 ； 而现代 x射线测厚仪则可根 据复杂公式运算进行更精确的补偿 ， 例如， 由于测 量不同成分的物体 ， 将导致穿过相 同样板厚度的 射线强度 ， 与厚度 d的关系变化 ， 因此需要作合金 补偿 。计算合金样板实际厚度使用的公式为 d d A ／ [ 1 A i ／ 1 0 0 ] 1 2 式 中， d 为 x射线测厚仪使用给定样板进行标定 的 x射线测厚仪测得的视在厚度； A 。 为合金补偿 的百分数或吸收系数 ， A 可用机械方 法或仪表实 第l 期 马竹梧 x射线测厚影响 因素分析、 技术进展及其在冶金工业中的应用 上 5 验测量合金样板得到。 当被测物含多种元素且材质密度与其他成分 差别较大时， 将对厚度影响较大 ， 如轧制合金铝板 时， 需要考虑较复杂的合金补偿公式 S[ n , x y一∑ ∑ y ] ／ [ n ∑ 一∑ ] 1 3 式 中， S为合金补偿 的斜率 ； 为 个标样在测厚 仪下测量的厚度样本平均值 ； y为使用的 ／ ／, 个标准 厚度的样本平均值。 在合金板 中， 含多种合金 ， 不同合金板成分也 不同 ， 为加快 测量速度 ， 避免在线计算 占用 时问， 通常还把不 同材质 的成分进 行预先计算 ， 并把 计 算结果用曲线或表格形式存储于仪表的计算机合 金补偿数据库 中， 应用 时调 出。对于热轧 时被测 物的温度补偿也采用 同样方法 ， 由高温计测量带 钢温度 对于板型仪更是使用扫描式 高温计测量 带钢横截面的温度 ， 然后根据温度补偿公式计算 并做成温度补偿 曲线或 表格存 于仪 表 的数 据库 中。 随着计算机的应用 ， 还可通过 C R T友好的人 机联络画面进行操作 和监 控 ， 而 网络通 信能 良好 地和 A G C系统 以及其它计算机相连 ， 可进行 自诊 断及故障报警 ， 甚至监视元部件老化状态 而方 便 维护。总之计算机的应用将大大提高仪表 的可用 性 、 可靠性和可维护性 。 3 元件技术进步与功能多样性 一台仪表可 同时测量厚度 、 凸度 、 板形甚至宽度 和温 度 。X 射线测厚仪的核心是 X射线发生器与检测器 ， 其 中 x射线管采用金属 陶瓷管可改善靶的结构及其 散热功能 ， 采用提高真空度等技 术可提高效率与 连续工作 的寿命 ； X射线检测器主要有 电离室并 采用闪烁晶体 一光电倍增管方式 。 目前闪烁 晶体 一 光电倍增管 已改用 C C D器件 成为 闪烁 晶体探 测器阵列 ， 从 而大大增 加 了可测量横 断面各 点的 厚度 ， 它最 先用 于 美 国 D MC公 司 和法 国 I S R I D S o l l a c钢 厂 共 同开 发 出 的 瞬 态 板 形 测 量 系 统 MI P 。这一系统可以同时测 出板带 中心的厚度 和两个边缘厚度 以及板形 ，而且不需要移动测厚 仪。在这种 MI P测厚系统安装有 2套 6 0 m m长的 C C D矩阵式探头 ，每套探头有 3 8 4个 测量单元 ， 闪烁晶体与硅平面光敏二级管直 接光电耦 合， 结 构紧凑耐用 ， 传输效率高， 分辨率达到 1 ． 3 m m。我 国上海梅山冶金公 司热轧厂 2 0 0 2年从美 国 T h e r ． no R a d i o m e t r i e公司引进 的 R M3 1 2 X射线瞬时横 断面测厚仪 简称 R M3 1 2凸度仪 也是采用这类 元件 ， 其镉钨 闪烁晶体探测器阵列 由 1 2个探测器 模块 紧密排列形成 ， 每个探测器模块包含 3 2个探 测器元件， 每个探测器元件的宽度为 6 m m。电离 室也有很大的进步 ， 采用充高压氙气 X e 或其他 气体 、 高压 直流供 电等 ， 以改善 响应 时 间与灵敏 度， 同时使用 2个 X射线源 以及 多个 电离室组成 多通道测量系统 ， 以测量 中心 的厚度和两个边缘 厚度以及板形 ， 同时还采用 C形架 ， 以频率 1 1 ． 2 Hz 振幅 1 2 m m振动 ， 以使 电离室扩大横 向厚度距 离。 R M3 1 2凸度仪还设 有独特 的立体测量技术 ， 使其能够补偿带钢横 向倾斜角度对厚度测量的影 响 ， 并具有横 断面厚度 瞬时精确测量和宽度测量 等多种测量功能。它使用 2个发出扇形 X光 覆 盖带钢宽度 的 x射线源 、 高速旋转的旋转快门 、 2 套内部标准板库 以及探测器 阵列 ， 从两个角度对 带钢进行快速交替测量 ， 实现对带钢的立体测量。 x射线 测厚仪 表还装 有温度 计 ， 用于测量被测物 温度 ， 并可以作为测厚的温度补偿 。 [ 编辑 魏方] 待续 首钢大石河铁矿超声波浓度计适用性试验取得良好效果 在磁铁矿磨选工艺中， 磁选机给矿浓度的优劣， 直接影响磁铁矿选别效果的高低。首钢矿业公司大石河铁矿针对各 工序点位浓度采用人工检测， 不能及时反映现场实际情况， 造成操作调整滞后， 磁选机给矿浓度变化波动大 ， 影响选别效 果的问题， 于2 0 0 9年在主厂磨选区4 ， 5 选别系统的二次选别分矿箱点位， 接入投入式传感器以及 U S D超声波污泥浓度 计 ， 开展 了浓度 自动检测 试验。经过严密组织设备安装 、 现场调试 、 取样验证 、 技术指 标对 比等 各环节 的工作 ， 试验 获得 了 满意的效果。采用 U S D超声波浓度计后误差控制在 1 ． 2 2 ％以内， 能够满足选矿工艺要求。同时， u s D超声波浓度计具有 对磁铁矿矿浆浓度的检测规律性好 ， 精度高， 测量范围大， 投资费用低等优点。 超 声波浓度 计在磨选工艺 中适用性试验 的开展 ， 为磁选 机给矿 浓度 由人工检 测 向 自动检测 转变 ， 从根 本上提 升选矿 工 艺技 术水 平 ， 创造 了条件 。 首钢矿业公 司 办公 室刘承军