一种FPGA的可编程逻辑单元的全覆盖测试方法 -.pdf

第 3 1 卷第 4期 2 0 1 0年 4月 仪 器 仪 表 学 报 C h i n e s e J o u m l o f S c i e n t i f i c I n s t r u me n t Vo 1 ． 31 No． 4 Apr ．2 01 0 一 种 F P GA的可编程逻辑 单元的全覆盖测试方法 廖永波，李平，阮爱武 电子科技大学电子薄膜与集成器件国家重点实验室成都6 1 0 0 5 4 摘要 提 出并验证了一种新颖的 F P G A中 C L B的全覆盖定位测试 方法 ， 该方法通 过建立基 于 S O C软硬 件协 同技 术 的 F P G A 自动测试系统 ， 实现了C L B测试所需要的多次下载不同的配置图形， 针对每个配置图形进行测试的需求； 该方法通过建立规则 布局 C L B串行移位阵列为基础形成的F P G A定位配置图形 、 以及 F P G A自动定位算法 ， 实现了对 F P G A中所有 C L B的全覆盖测 试以及错误定位。利用本文提出的方法对X i l i n x 公司X C 4 0 1 0型号 F P G A中所有 C L B进行了测试， 实验结果表明该方法可以实 现 F P G A中 C L B的全覆 盖测试 以及错误定 位。 关键词 软硬件协同验证； F P G A； C L B； 定位 ； 测试 中图分类号 T P 2 0 6 ． 1 文献标识码 A 国家标 准学科分 类代 码 5 1 0 ． 3 0 4 0 No v e l s c he me f o r f ul l c o v e r a g e t e s t o f l o g i c r e s o ur c e f a ul t s i n FPGA Li a o Yo n g bo，L i Pi n g，Ru a n Ai wu S t a t e K e y L a b o r a t o r y o f E l e c t r o n i c F i l m s A n d I n t e g r a t e d D e v i c e s ， U n i v e r s i t y of E l e c t r o n i c S c i e n c e A nd T e c h n o l o g y o fC h i n a ， C h e n g d u 6 1 0 0 5 4 ， C h i n a Ab s t r a c t A n o v e l s c he me f o r f u l l c o v e r a g e t e s t o f l o g i c r e s o u r c e f a ul t s i n FPGA h a s b e e n s t u d i e d i n t h i s p a p e r ．Ta k i n g a d v a n t a g e o f fl e x i b i l i t y a n d o b s e r v a b i l i t y o f s o f t w a r e i n c o n j u n c t i o n w i t h h i g h - s p e e d s i m u l a t i o n o f h a r d w a r e ，a S OC C O v e rific a t i o n t e c h n o l o g y b a s e d i n h o us e FPGA f u n c t i o n a l t e s t a l g o rit h m i s p r o p o s e d，wh i c h c a n me e t t he r e q u i r e me n t o f f ul l c o v e r a g e t e s t o f l o g i c r e s o u r c e f a u l t s i n F PGA t h r o u g h i mp l e me n t i n g t h e pr o c e s s o f c o n fig u r a t i o n p a t t e r n d o wn l o a di n g a n d s c a n n i n g a u t o ma t i c a l l y ． I n t h i s p r o c e s s，c o n fi g u r a t i o n p a t t e r n s o f CL Bs a r e f o r me d r e g u l a r l y a n d c o r r e s p o n d i n g f a u l t l o c a t i o n a l g o r i t h m i s i mp l e me n t e d．Ex p e r i me nt r e s u l t s o f XC4 01 0E de mo n s t r a t e t h a t f u l l C O Y e r a g e t e s t o f l o g i c r e s o ur c e f a u l t s c a n b e r e a l i z e d ． Ke y wor dsS OC c o v e rifi c a t i o n；FP GA；CLB；l o c a t i o n；t e s t 1 引 言 现场可编程门阵列 F P G A 是一种通用器件 ， 包 含大量 重 复 的可 编程 逻 辑 块 C L B 、 输 入 输 出单 元 I O B 、 可编程互连线 P I 等基本单元 。 F P G A的测试 分为 2类 生产 测试 M T P 和应用 测 试 A T P 。F P G A的制造厂商采用 M T P ， 因为 MT P是覆 盖了整个 F P G A资源 的测试 ； 然 而 F P G A的使 用者更关 心 A T P ， 因为他们只关心使用的那部分资源是否有缺 陷。 例如有人使用了 自动测试仪 A T E 和 F P G A厂商提供 的 收稿 日期 2 0 0 9 -08 R e c e i v e d D a t e 2 0 0 9 - 0 8 嵌入式软件测试 F P G A 。本文研究 的是 M T P 。 F P G A是一种 “ 事 先” 无功能 的器件 ， 对它 的测试需 要经历功能配置和故 障扫描 2个阶段 ， 为 了实现 高的测 试覆盖率 ， 往往需要对 F P G A进行 多次配置 。 由于 F P G A 中9 0 ％ 的逻辑功能都是由 C L B所实现 ， 所 以 C L B的测试在 F P G A测试中占有重要地位。要完成 F P G A中所有 C L B的测试 ， 需 要多次下 载不同 的配置 图 形和进行故障扫描 。在过去 1 0年间 ， 有大量的文章研究 C L B故障的诊 断 ， 例如 文献 [ 8 - 9 ] 研究 了减 少单个 C L B 的配置次数的算法 ， 但这些算法仅能证 明一个 C L B内部 是否有错误， 却不能直接应用于对一个 F P G A中的所有 学兔兔 w w w .x u e t u t u .c o m 8 5 8 仪器仪表学报 第 3 1卷 C L B进行全覆盖测试 ， 不 能发现 一个 F P G A中发生错 误 的 C L B的具体位置 ， 而这是 F P G A制造测试中最需要关 注的问题 。对于一个 F P G A中的 C L B的测试 ， 目前有 直接测试方法 、 基于异或 门扫描链 的测试方法 ， 基 于 与门和或 门扫描链 的测试 方法 、 基 于阵列 的测试 方 法 、 基 于内建 自测试 B I S T 的方法 等。上述的几种 测试方法不能实现对一个 F P G A的全部 C L B的全覆盖测 试 ， 原 因是利用 F P G A生产 厂商的软件 ， 如 X i l i n x公司的 I S E或 Al t e r a公司的 Q u a r t u s I I 产生配置图形时 ， 采用的 是 自动布局布线的功能 ， 不能保证覆盖每一个 C L B中的 所有器件和端 口。 如果要对 F P G A 中 C L B单元进 行全覆 盖测试和 定 位 ， 就必须对一个 F P G A中所有 C L B单元进行有序的编 号 ， 也就是需要软件能够控制 F P G A 中 C L B单元 的位置 及其单元之间 的连线 ， 实现 C L B的规 则排列。因此 ， 本 文通过 ca主开发的软件 C o n P l a c e m e n t 软件 产生规则布 局 C L B串行移位阵列 ， 在此基础上形成 的 F P G A定位配 置图形 ， 以及 F P GA自动定位算法。 2 F P GA 自动测试方法 2 ． 1 概述 本文提出的基于 S O C软硬件协同技术 的 F P G A ca动 测试方法包括软件和硬件两个部分 。硬件部分的实现参 照文献[ 1 6 ] 。软件部分实现了表 1中相对应函数的分别 调用。一方面 ， 当自动配置时 ， 首先调用 C o n P l a c e m e n t 函 数来实现 F P G A中 C L B单元按顺序布局 和布线 ， 然后调 用 F u n c t i o n f o r c o n fi g u r a t i - o n函数来 实现对被测试 F P G A 进行配置， 最后调用 c o n fi g u r a t i o n t i m i n g 函数来 实现配置 时序 ， 产生保证能把配置图形成功地下载到被测试 F P G A 中的时序 。当 ca动故障扫描时 ， 首先调用 F u n c t i o n f o r S C a n函数来 开始故 障扫描 ， 然后 调用 V i r t u a l F P G A - u n d e r t e s t 函数和 T e s t b e n c h函数来实现 F P G A内部被测试 C L B 单元的激励的添加 ， 最后 调用 F u n c t i o n f o r w a v e f o r m d i s p l a y i n g函数来收集响应数据。另一方 面， 硬件部分实现 了在软件控制下 的系统时钟管理 、 数据通信 以及数据管 理。这样就实现 了连续的对被测试 F P G A 自动配置 、 自 动施加扫描激励 、 自动接收输 出响应等。综上所述 ， 本 文 提出的 F P G A自动测试方法连续重复地实现 了 F P G A 自 动配置和 F P G A 自动扫描 。 2 ． 2 C L B全覆盖定位测试方法 要完成 C L B全覆盖定位 测试 方法 除了需 要上节提 到的基于 S O C软硬件协同技术的 F P G A测试平台及其 自 动测试和 自动扫描技术外 ， 还需要研究如何 实现 C L B的 规则排列以及定位测试算法。 表 1 F P G A测试调 用的函数 Ta bl e 1 Func t i o ns f o r FpGA t e s t 项 目 函数类型 Co n P 1 a c e me n t F u n c t i o n f o r c o n fi g u r a t i o n Co n f i gu r a t i o n t i mi n g F u n c t i o n for s c a n Vi r t u a l F P GA u n d e r - t e s t Te s t b e n c h F u n c t i o n for wa v e f o r m d i s p l a y i n g 1 如果要对 F P G A中 C L B错误单元 进行定位 ， 就必 须对一个 F P G A中所有 C L B单元进行有序 的编号 ， 也就 是需要软件能够控制 F P G A 中 C L B单元及其单元之间的 连线 ， 实现 C L B的规则排列。 本文提 出的 C L B全覆 盖定位测 试方法是基 于把所 有的被测试 C L B串联 成一 个 C L B阵 列。 由于每一 个 C L B配置通过 5次配置 Ⅲ 就能够遍历单个 C L B单元 中 所有 的资源 ， 所 以通过 自主开发的软件 C o n P l a c e m e n t 实 现 F P G A中所有 C L B都有规则排列 的配置 图形 ， 使其成 为一个串行联接的 C L B阵列。 如图 1所示 ， 在 C L B移位测试链 中， 把被测试 的 F P ． G A的所有 L U T L o o k U p T a b l e 模块配置成为移位串行 链 ， 其输入信号 F 1 ～F 3为 F P G A中所 有 F ． L U T的 F 1 ～ F 3的公共输入端 ， 为并行输入信号 ； F 4为串行输入端 口， 被测试 F P G A的第 1 个 C L B的 F 4接输入信号端 口， 其他 的 C L B单元的 F 4 端 口接上一个 C L B的输出信号 Y 。对 于 G L U T使用相同的连接方法。把被测试的 F P G A的所 有 D F F D F L I P F L O P 模块配置成 为移位 串行链 ， 被测 试 F P G A的第 1 个 C L B的 c l 接输入信号端 口， 把 C l 接 到 D F F的输入端 ， 其他的 C L B单元的 c 1 端 口接上一个 C L B的 D F F的输出信号 Y Q 。对于另一个 D F F使用相 同 的连接方法。这样就能完成了一个 F P G A中所有 C L B的 配置图形。 C L B 测试7 个并行输入符脚F I F 3 ／ G I - G 3 ／ c Ik ～ 善 l／C _ { 阳 卜一 } 第1 个C L B 第2 个C L B ⋯⋯⋯⋯第Ⅳ个C L B 图 1 C L B移位测试链 F i g ． 1 CLB s hi f t t e s t c ha i n 1 2 3 4 5 6 7 0 L B 测试 的 4个串 行输 入管 脚 学兔兔 w w w .x u e t u t u .c o m 第4期 廖永波 等 一种 F P G A的可编程逻辑单元的全覆盖测试方法 8 5 9 2 定位测试算法 在实现 了把 F P G A配置成 图 1的图形 后， 开始定位 测试过程。其方法如下 ， 首先从输入端施加激励 ， 通过时 钟信号 ， 把施加的激励在 C L B问顺序传递。 当发现输出 信号出错时 ， 根据输 出信号与时钟之间的对应关系 ， 就能 定位第几个 C L B出错 ， 最后标示 出错 C L B并且在 串行联 接的 C L B中剔除掉出错 C L B和其之后的 C L B单元 。将 输出管脚连接到出错 C L B的前一个单元 ， 重新生成配置 图形 ， 并进行测试 。重复这个过程直到所有 的 C L B单元 都被测试。整个过程如图 2所示 。 图 2 C L B全覆盖定位测试方法 F i g ． 2 F u l l c o v e r a g e t e s t me t h o d s 3 F P GA芯片测试 实验与结果 为了验证本文 提出的 F P G A测试方 法 ， 建立 了基 于 软硬件协 同技术 的 F P G A芯 片测试 系统 ， 以 X i l i n x 4 0 1 0中的 C L B单元为例进行测试 。根据文献 [ 2 0 ] ， X i l i n x 4 0 0 0系列的单个 C L B的全覆盖配置 图形为 7 个 。通 过软件 C o n P l a c e m e n t 配置 出的其 中一个 规整 的 C L B阵 列如图 3所示。 图 3 X i l i n x 4 0 1 0的 C L B阵列配置图形 Fi g ． 3 CLB a r r a y c o n fig ur a t i o n g r a p h o f Xi l i nx 401 0 完成一次 X i l i n x 4 0 1 0中所 有 C L B配置和测试的时 间为 1 ． 9 5 s 。测试完一 片 X i l i n x 4 0 1 0后 ， 测试 结果显示 的芯片 中出错 C L B如图 4所示 。 l， 1 l ， ， ．I．I I I l 。1 ， m f l ，I I J l 墟 l l 一川 ～ l lIf 三 一 兰 l 图 4 X i l i n x 4 0 1 0中 C L B的全覆盖定位 测试 Fi g． 4 Fu l l c o v e r a g e t e s t o f CLB i n Xi l i n x 4 01 0 为 了进一步验证本文提 出的定位测试 方法， 对上 述 的 X i l i n x 4 0 1 0进行 A T P对 比测试 ， 即在该 F P G A芯 片的 出错 C L B处下载一个 8位加法器 ， 如图 5 a 所示 ， 其测 试结果如图 5 b 所示 。从仿真结果 中可以判 断加 法器 的输 出第 0位和第 5位有 固定为 1的错误 ， 此结果 说明 了图 4中全覆 盖测试 中测试位置 6 ， 1 0 处的 C L B存 在 错误 。同时， 为 了进行对比实验 ， 把相同的加法器下载至 同一个 F P G A芯片未 出错 的区域 ， 如 图 6 a 所示 ， 其测 试结果如图 6 b 所示 ， 测试加法器的结果是正确的。 a 涉及出错 单元的加法器配 置图形 a A n e r r o r a d d e r c e l l c o n f i g u r a t i o n g r a p h l t i l 薹 d i t v i 柑蠡 a 矗 F r t t a t 薹 o o l s 萱 i n d o w b 涉及出错单元 的加法器测试结果 b A n e r r o r a d d e r c e l l t e s t r e s u l t s 图5 涉及出错单元的加法器的测试 F i g ． 5 T e s t r e s u l t o f a n e r r o r a d d e r c e l l 学兔兔 w w w .x u e t u t u .c o m 仪器仪表学报 第 3 1卷 a 不涉及 出错单元的加法器配置图形 a A c o r r e c t a d d e r c e l l c o n f i g u r a t io n g r a p h ￡ i l | d i t 芏 i w 酣r r m l t Z o o l s l i a d c t [ 2] [3] b 不涉及 出错单元的加法器测试结果 b A n c o i T e c t a d d e r c e l l t e s t r e s u l t s 图6 不涉及出错单元的加法器的测试 F i g ． 6 T e s t r e s u 1 t 。 f a c 。 r r e c t a d d e r c e 1 1 [ 4] 本文提出的 F P GA芯片 C L B全覆盖测试方法有以下 2 项主要优势 1 该测试方法实现 了把一个 F P G A 中所 有的 C L B单元配置成一个串行扫描链 ， 且每一个 C L B单 元在该扫描链 中具有唯一 给定 坐标 ， 实现 了 F P G A芯片 的 C L B全覆盖测试及错误单元定位 ； 2 由于该测试方法 能够完成 F P G A中错误 C L B单元 的定位 ， 这为通过冗余 技术和适 当的算法实现 自动修复 F P G A中的错误提供 了 基础 ， 对此将进一步开展研究。 4结 论 本文提出了一种基 于 S O C软硬件 协 同仿效 技术的 F P G A中 C L B的全覆盖定位测试方法 。该方法通过建立 F P G A 自动测试系统解决 了 F P G A测试需要多次配置 的 问题 ， 使 F P G A的测试 过程 连续 自动完成 ， 这 样 弥补 了 A T E测试机对 F P G A测试的不足。该方法采用 自主开发 的软件 C o n P l a c e m e n t 软件 ， 产 生以规则布局 C L B串行 移位阵列为基础的 F P G A定位配 置图形 ， 以及 F P G A错 误定位算法。通过使用该方法对 X i l i n x 4 0 1 0芯片进行测 试 ， 结果表明该方法能够实现 F P G A中所有 C L B的全覆 盖测试和错误 C L B单元的定位 ， 从而验证了所提 出测试 方法的有效性 。 [ 5] [ 6] [ 7] [ 8] [ 9] 参考文献 崔旭涛， 杨 日杰， 何友．基于 D S PF P G A的信号处理 实验系统研制 [ J ] ．仪器仪表学报，2 0 0 7 ， 2 8 5 91 9- 9 22． C UI X T，Y ANG R J ，HE Y．De v e l o p me n t o f s i g n a l p r o ． c e s s i n g s y s t e m b a s e d o n D S P a n d F P G A[ J ] ．C h i n e s e J o u rnal o f S c i e n t i fi c I n s t r u m e n t ， 2 0 0 7 ， 2 8 5 9 1 9 - 9 2 2 ． 刘杰， 牛燕雄， 董伟， 等．基于 F P G A的视频信号发生 器设计 与应 用研究 [ J ] ．仪器仪表学报 ， 2 0 0 8 ， 2 9 3 6 54- 65 7． L I U J ，N I U Y X，DON G W ，e t a 1 ．De s i g n a n d a p p l i c a - t i o n o f v e d i o s i g n a l g e n e r a t o r b a s e d o n F P G A[ J ] ．C h i ． n e s e J o u r n a l o f S c i e n t i fi c I n s t r u me n t ，2 0 0 8 ， 2 9 3 6 54- 6 57． 杨 自恒 ， 周平 ， 刘佳 ， 等．基 于 F P G A 的椭 圆 曲线 点乘 算法设计与实现 [ J ] ．仪器仪表学报， 2 0 0 9 ， 3 0 7 1 54 6 1 5 51． Y ANG Z H，Z HOU P，L I U J ，e t a 1 ．I mp r o v e me n t a n d i mp l e me n t a t i o n o f t he a l g o r i t h m d e s i gn o f e l l i p t i c c u r v e d o t p r o d u c t b a s e d o n G F [ J ] ． C h i n e s e J o u r n a l o f S e i e n t i f - i c I n s t r u me n t ， 2 0 0 9， 3 0 7 1 5 4 6 1 5 5 1 ． 杜高明 ， 王锐 ， 胡 永华 ， 等．一种 改进 的微控 制器 F P G A原型芯 片设计与 验证 [ J ] ．仪 器仪表学报 ， 2 0 0 6， 2 7 6 2 3 4 6 2 3 4 9． DU G M ，W ANG R，HU Y H，e t a 1 ．De s i g n a nd v e r i fi c a t i o n o f a n 8 - b i t MP U p r o t o t y p e i n F P GA e n v i rome n t [ J ] ．C h i n e s e J o u rnal o f S c i e n t i fi c I n s t r u m e n t ， 2 0 0 6 ， 2 7 6 2 3 4 6 2 3 4 9 ． T O U T O U N C HI S ， I J A I A．F P G A t e s t a n d o v e r a g e [ C ] ． Pr o c e e di n gs I EEE I n t e r n a t i on al Te s t Co n f e r e n c e 2 0 02， Ba l t i mo r e，MD，USA，20 0 2 59 9- 6 07． 李扬， 孙玉国， 金鑫．基于嵌入式逻辑分析仪的 F P G A 测试[ J ] ． 仪器仪表学报 ， 2 0 0 6 ， 2 7 6 2 3 7 2 2 3 7 3 ． L I Y，S UN Y G，J I N X． F P GA s i gnal e x t r a c t i o n b a s e d o n e mb e d d e d l o g i c a n a l y z e r [ J ] ． C h i n e s e J o u r n a l o f S c i e n t i fi c I n s t r u m e n t ， 2 0 0 6 ， 2 7 6 2 3 7 2 - 2 3 7 3 ． 吉国凡， 赵智昊 ， 杨嵩．基于 A T E的 F P G A测试方法 [ J ] ．电子测试 ， 2 0 0 7 1 2 4 3 4 6 ． J I G F，Z HAO Z H H，Y ANG S ．AT E b a s e d F P GA t e s t a p p r o a c h [ J ] ．E l e c t r o n i c T e s t ， 2 0 0 7 1 2 4 3 - 4 6 ． HUANG W K，L OMBARDI F．An a p pr o a c h f o r t e s t i n g p r o g r a mma b l e ／ c o n fi gn r a b l e fi e l d p r o g r a mma b l e g a t e a r r a y [ C] ．V L S I T e s t S y mp o s i u m，1 9 9 6 ．P roc e e d i n g s o f 1 4 t h ． ，P rin c e t o n，NJ ，US A， 1 9 9 6 4 5 0 - 4 5 5 ． I NOU E T，F UJ I WAR A H，MI C HI NI S HI H，e t a 1 ．U n i v e r s al t e s t c o mp l e x i t y o f fi e l d p r o g r a mmab l e g a t e a r r a y s [ C ] ．T e s t S y m p o s i u m， 1 9 9 5 ． ， P r o c e e d i n g s o f t h e F o u r t h 学兔兔 w w w .x u e t u t u .c o m 第 4期 廖永波 等一种 F P G A的可编程逻辑单元的全覆盖测试方法 8 6 1 [ 1 0 ] [ 1 1 ] [ 1 2 ] [ 1 3] [ 1 4 ] [ 1 5 ] [ 1 6 ] [ 1 7 ] [ 1 8 ] As i a n，Ba ng a | o r e，I nd i a，1 9 9525 9- 2 65． DOUMA R A ，I T O H．De t e c t i n g，d i a g n o s i n g，a n d t o l e r a t i n g f a ul t s i n SRAM ba s e d fie l d pr o g r a mma b l e g a t e a r r a y s A s u r v e y[ J ] ．I E E E T r a n s a c t i o n s o n V e r y L a r g e S c a l e I n t e g r a t i o n S y s t e m s ， 2 0 0 3 ， 1 1 3 3 8 6 -4 0 5 ． HUANG W K，Z HANG M Y ，ME YE R F J ，e t a 1 ． An XOR t r e e b a s e d t e c hn i q u e f o r c o ns t a n t t e s t a b i l i t y o f c o n f i g u r a b l e F P G A s[ C] ．T e s t S y m p o s i u m，1 9 9 7 ． A T S a p o s ； 9 7 P r o c e e d i n g s ， S i x t h A s i a n ， Wa s h i n g t o n ，U S A， 1 9 97 2 4 8- 2 5 3． HUAN G W L， MEYE R F J ，L OMB ARD I F． Mu l t i p l e f a u l t d e t e c t i o n i n l o g i c r e s o u r c e s o f F P G A s[ C] ．D e f e c t a n d F a u l t T o l e r a n c e i n VL S I S y s t e ms ， 1 9 9 7 P r o c e e d i ng s，Pa i r s ，FRANCE，1 99 7 1 8 6 1 94． HU ANG W K，ME YE R F J ，L OMB ARD I F ． Ar r a y ba s e d t e s t i ng o f FPGAs a r c h i t e c t u r e a n d c o mp l e x i t y [ C] ．P r o c e e d i n g s E i g h t h A n n u a l I E E E C o n f e r e n c e o n I n n o v a t i v e S y s t e ms i n S i l i c o n，T e x a s ，U S A，1 9 9 6 2 4 9 2 58 ． SHYUE KUNG L U，CHEN C Y． F a ul t d e t e c t i o n a nd f a u l t d i a g n o s i s t e c h n i q u e s fo r l o o k u p t a b l e F P G A s [ C] ． Pr o c e e di ng s o f t h e 1 1 t h As i a n Te s t S y mpo s i um． Gua m， US A ，2 00 223 6- 241 ． GI RARD P．BI S T o f de l a y f a ul t s i n t h e l o g i c a r c h i t e c t u r e o f s y mm e t r i c a l F P G A s[ C] ．P r o c e e d i n g s o f t h e 1 0 t h I E E E I n t e rna t i o n a l O n L i n e T e s t i n g S y m p o s i u m I O L T S ’ 0 4 ， F u n c h a l ， Ma d e i r a I s l a n d ， P o a u g a l ， 2 0 0 4 1 8 7． 1 9 2． L I AO Y B． A HW ／S W c o v e rific a t i o n t e c h ni q ue for FP G A t e s t [ c] ．I E E E P r o c ．I C T D，C h e n g d u ，C h i n a ， 2 00 9 4 5 6-459． 梅 安华 ， 田建 生 ， 刘 欢 ， 等． 基 于 总线灵 活 配 置 F P G A [ J ] ． 电子技术 ， 2 0 0 4 9 1 8 2 1 ME／AN H，T I AN J S H，L I U H，e t a 1 ．F l e x i b l e F P GA c m ff i g u r a t i o n b a s e d o n b u s s t r u c t u r e[ J ] ． E l e c t r o n i c T e c h n o l o g y ， 2 0 0 4 9 l 8 2 1 ． 李平， 廖永波， 阮爱武 ， 等． S O C软硬件协同技术的 F P G A芯片测 试 新 方 法 [ J ] ， 电 子 科 技 大 学 学 报 ， 2 0 0 9 9 7 1 6 7 2 0． [ 1 9 ] [ 2 0 ] I Jl P，LI AO Y B，RUAN AI W ，e t a 1 ．No v e l a p pr o a c h t o t e s t fie l d pr o g r a mma bl e g a t e a rra y b a s e d o n S o C HW ／S W c o v e r i fi c a t i o n t e c h n o l o gy[ J ] ．J o u r n a l o f U n i v e r s i t y o f E l e c t r o n i c S c i e n c e a n d T e c h n o l o gy o f C h i n a ，2 0 0 9 9 71 6- 7 2 0． LI AO Y B ．LI P RUAN AI W