氢化物-原子荧光光谱法测定高纯铅中微量锡.pdf

氢化物 原子荧光光谱法测定高纯铅中微量锡 冯先进“， 王肇中“， 卓毓瑞， 师世龙， 符斌“ （北京矿冶研究总院， 北京“““； 中金岭南铅锌分公司韶关冶炼厂， 广东韶关“““） 摘要在试验基础上， 研究高纯铅中微量锡的氢化物 原子荧光光谱简便、 快速测定方法。最佳仪器条件和最佳测定条件为 负高压 2。可用于高纯铅和铅锭中微 量锡的测定。 关键词氢化物 原子荧光光谱法； 高纯铅； 锡； 测定 中图分类号 6 图 “ 硼氢化钾浓度对锡荧光强度的影响 85/C9D IDE775 J;KGF;5F 9696D;ED56 6 H;7969 6 共存元素的影响 由于测定的是高纯铅中的微量杂质元素， 因此首 先考察基体铅对锡测定的影响。当铅量小于 .““ 时， 对锡的测定无明显干扰， 但由于是在硫酸介 质中测定锡， 当铅量大于 0的允许量为 和少 量硝酸存在对测定无干扰。由于高纯铅中这些杂质 元素最大含量远远低于上述允许量， 因此这些元素对 锡的测定无影响。 ““线性范围和检出限 锡在 7-’.05’ 7F9 1.2-,9A E3- ./.,926., 1-7,2 .66410./2 23 23- 6-1256.2- M.,7-A E3- 1-64M-1- 45 2./0.10 .0024/ 541 2/ .1- 8-2--/ HPN ./0 QNA E3- RS 541 23- 0-2-1*/.24/ 45 “AL ; .*,- TA“NA E3- 146-071- 3. 8--/ .,-0 24 23- 0-2-1*/.24/ 45 21.6- .*47/2 45 2/ / 71- ,-.0 *-2., ./0 / ,-.0 /;42 .*,-A 4“/ 53’；2/；71- ,-.0 *-2.,； 0-2-1*/.24/ （上接第 T 页 U4/2/7-0 514* AT） 和变动成本， 两种方法所得结果基本一致， 回归分析 法使得固定成本和变动成本的划分更为方便快捷和 科学可信。 参考文献 ［］张玉清A矿山技术经济学 ［D］ A北京 冶金工业出版社， THQ Q ［“］汪应洛A系统工程 ［D］ A北京 机械工业出版社， TTT TQ 23- //-， “PAQNA ’,, 1-,.2M29 5.6241 45 1-;1-4/ .1- 8;;-1 23./ 23.2 541 T1-M- ./.,9 64/M-/-/2 ./0 1-,.8,-A 4“/ 53M.1.8,- 642；5V-0 642；1-;1-M- ./.,9 T 有色金属第 F 卷 万方数据