大气单颗粒物中无机元素的二次离子质谱研究.pdf

第 “卷 第期中国矿业大学学报 4 / 4 / 7 3 / K单颗粒物K无机元素 中图分类号CVE W ’ E 文献标识码CQ 随着微量分析和表面分析技术的发展与普及I 环境单颗粒物日益受到人们的重视X * I Y’采取适当 的微量分析方法可以研究某元素或化合物在单颗 粒物中的分布状态和表面富集状态X I F Y以及单颗粒 物的代表性和统计性’此类研究有助于识别颗粒物 来源X I E Y和研究发生在颗粒物表面N颗粒物与颗粒 物之间N颗粒物与周围大气之间的化学反应X W Y’ 在 单 颗 粒 物 研 究 领 域 中I二 次 离 子 质 谱 G O ; H是重要的分析手段之一X I F I J Z* * YI但在我国 有关报道较少X * Y’利用实验室的高性能二次离子 质谱I分别以硅基片N铜基片N镀银基片和镀金基 片I做对比实验I从中选择出最佳基片I并探索样品 处理的方法’将分析结果与总颗粒物的 O 2 P D QR 的分析结果做比较I进行二次离子质谱分析方法的 评价’ [ \ ] \原理 O ;是一种表面微区分析技术I 其原理是用 聚焦一次束G 2 8 _I V _I Q._或 ‘ 0 _H 轰击样品表面I 溅射出二次离子I二次离子经质量过滤器后按质荷 比分离’质量分离基于电磁偏转场N四极杆或飞行 时间原理’ O ;通常分为动态 O ;和静态 O ; 两种I动态 O ;一次束能量强I除表面分析外I还 能进行深度剖析’ O ;分辨率高I 采集质量宽G *到几千个原子 质量单位H I能分离同位素I而且检测限低I对于大 多数元素和化合物I检测限可达* “0 b D 收稿日期C “ “ “ * “ “ J 作者简介C梁汉东G * D H I男I山东省东平县人I中国矿业大学副教授I工学博士G博士后H I从事分析化学N质谱应用和地球化学方面的 研究c 万方数据 “ “ “ / 6 枪和 A 5镓枪模式下质 量分辨率高达B “ “ 3 C / 6 选择 A 5束流 8 “F 采集原子 质量3 P Q6 范围“ MJ “ “ 8 J种基片为L硅片3以下用 B C JKL F F G E GE G E DE; A; D E F HMNL F G E D E G EA; F HF D F GQL E G AD H G G FF D H ES CL H A G H AGH G D FD ; G H D FR L D ; G H A E; ; ; D D D G EG; HF E E D U VL D D G HGH D ; F G R WL F G F G G E ; D FY [ ; D ; G ; GH A ; D H; D G G F ;G; D ; G A; G G D H F H ; G AOW ; G G AF; F F G G b H 9 0- ’ ] 8 , 9 6 5 0 * no pq r i s g H Z R c’ , - . 0 , 1 1 6 . 4 6 A 6 4 ’ 8 , 9 6 5 0 c6 . 1 , M . 6 50 0 70 . 9 LOO 第L期梁汉东等H大气单颗粒物中无机元素的二次离子质谱研究 万方数据