大气颗粒物样品波长色散X射线荧光光谱法无机元素测量结果不确定度评估_李玉武.pdf

第 26 卷第 3 期 2007 年 6 月 岩矿测试 ROCK AND MINERAL ANALYSIS Vol． 26，No． 3 June， 2007 文章编号 02545357 2007 03021906 大气颗粒物样品波长色散 X 射线荧光光谱法 无机元素测量结果不确定度评估 李玉武，马莉 国家环境分析测试中心，北京100029 摘要 分析了用 X 射线荧光光谱法 XRF 测定大气颗粒物样品 TSP 中 Al、 Na、 Cl、 Mg、 Cu、 Zn、 Ca、 S、 Fe、 Mn、 K、 Pb、 Cd、 Ba 等无机元素结果的不确定度来源， 对石英滤膜颗粒物样品无机元 素含量测量不确定度进行了评估。计算结果表明， XRF 测定中无机元素薄膜标样示值误差和工 作曲线拟合误差是测量结果不确定度的主要来源。对计算测量不确定度的公式合成法和蒙特卡 洛 Monte Carlo 模拟法的结果进行了比较， 两种计算方法所得的结果一致。 关键词 测量不确定度评估; 波长色散 X 射线荧光光谱法; 大气颗粒物; 蒙特卡洛模拟 中图分类号 O213． 1; X513; O657． 34文献标识码 A 收稿日期 2006- 07- 01; 修订日期 2006- 09- 04 基金项目 国家科技部分析测试新技术新方法项目 2003 － 15 ; 国家科技基础平台项目 全国分析测试体系的 建立与完善［ FC 03 －04 年度 01］ 作者简介 李玉武 1956 ， 男， 湖北武汉人， 高级工程师， 分析化学专业。E- mail liyuwu cneac． com。 uation of Measurement Uncertainty for the Determination of Inorganic Elements in Aerosols by Wavelength Dispersive X- ray Fluorescence Spectrometry LI Yu- wu，MA Li National Research Center for Environmental Analysis and Measurements，Beijing100029，China Abstract In this paper，the measurement uncertainty for the determination of inorganic elements，such as Al， Na，Cl，Mg，Cu，Zn，Ca，S，Fe，Mn，K，Pb，Cd and Ba in aerosols is uated by wavelength dispersive X- ray fluorescence spectrometry． The sources of random error were analyzed． It is shown that the measurement uncertainty is mainly from the fitting error of calibration regression curve and the error of element concentration in the standard films． The calculation results of uncertainty from ula are in aggreement with those from Monte Carlo simulation ． Key words uation of measurement uncertainty; wavelength dispersive X- ray fluorescence spectrometry; aerosol; Monte Carlo simulation 大气颗粒物样品中无机元素定量分析数据是 颗粒物来源解析的重要基础数据。无机元素测量 结果的不确定度也是解析计算程序中需输入的基 本参数。测量精度好的数据有较高权重。这些数 据的准确性直接影响来源解析中各类源贡献率的 最终计算结果。 用 X 射线荧光光谱 XRF 技术测定大气颗粒 物中无机元素， 由于其分析方法操作简单， 不需要 样品预处理， 准确性高而成为美国环保署推荐的标 准方法之一， 用于颗粒物来源解析 ［1 ］。比利时安 特卫普大学微区及痕量分析中心在大气颗粒物 XRF 分析领域占有重要地位。由世界原子能机构 912 ChaoXing 赞助、 P． Van Espen教授研制开发的 AXIL 软件在 EDX － XRF谱图解析及元素定量分析计算中， 已得 到广泛运用 ［2 ］。此软件也涉及到 XRF 测量结果不 确定度的计算 仅需要一次样品测量值 。对运用 AXIL 软件得到的大气颗粒物样品测量结果进行仔 细分析比较后发现， 测试报告中各元素相对标准偏 差均为 20， 这与常识不符。因为相对标准偏差 应与元素的含量有关。含量高， 则相对标准偏差 小; 含量低， 则相对标准偏差大。由此可见， 此软件 计算出来的测量结果不确定度不能令人满意。 美国环保署推荐的大气颗粒物无机元素定量 分析 XRF 标准方法 ［1 ］中列举了影响测量结果的不 确定度的种种因素， 此技术资料所公布的大气颗粒 物标准样品无机元素的测量结果报告单中也附有 不确定度 标准偏差 数据。分析比较此套数据可 看出， 此数据比 AXIL 软件计算结果合理; 但标准 方法中没有具体讨论不确定度的定量计算方法。 日常测试服务中， 客户常常要求测试报告能提 供测量结果的不确定度。越来越受到广泛关注的 实验室认可体系对测量结果的不确定度也有明确 要求。受测量时间、 经费等因素的限制， 日常测试 服务对样品的测量大多仅为一次。如何利用分析 测量各主要环节的误差分析数据及样品测量数据， 为客户报出具有参考价值的不确定度， 是一项有意 义的工作， 其研究成果对日常测试工作有指导 作用。 本文采用中国实验室认可指导性文件化学 分析中不确定度的评估指南 ［3 ］， 分析了用 XRF 技 术测定大气颗粒物样品中 Al、 Na、 Cl、 Mg、 Cu、 Zn、 Ca、 S、 Fe、 Mn、 K、 Pb、 Cd、 Ba 等无机元素结果的不确 定度来源， 对石英滤膜颗粒物样品无机元素含量的 测量不确定度进行了评估; 并尝试采用蒙特卡洛 Monte Carlo 模拟法， 计算 XRF 法测定结果的不 确定度。对经典的公式合成法和蒙特卡洛 Monte Carlo 模拟法的结果进行了比较。 1实验部分 1． 1仪器及测量条件 日本理学 RIX 3000 型 X 射线荧光光谱仪 WDXRF 。端窗 Rh 靶 X 射线管。测量时， X 光 管电压为 50 kV， 电流为 50 mA， 粗狭缝， 视野光阑 直径为 30 mm， 真空 3． 7 ～ 6． 7 Pa 。相关元素测 量条件见表 1。 表 1颗粒物样品中无机元素的 XRF 测量条件① Table 1Measurement conditions for inorganic elements in aerosol sample by XRF 元素滤光片分析线 分析 晶体 2θ/ 峰值背景 1背景 2 t计数/s 峰值背景 1背景 2 探测器 PHA LL， UL 衰减器 NaOUT Kα TAP55．35040PC100， 3001/1 MgOUT Kα TAP45．30040PC100， 3001/1 AlOUT Kα PET144． 80540PC100， 3001/1 SiOUT Kα PET109． 15040PC100， 3001/1 SOUT Kα Ge110． 65040PC100， 3001/1 ClOUT Kα Ge92．80040PC100， 3001/1 KOUT Kα Ge69．90540PC100， 3001/1 CaOUT Kα Ge61．95040PC100， 3001/1 MnOUT Kα LiF162．97563．6552020SC85， 3681/1 FeOUT Kα LiF157．52057．02058．000201010SC72， 3481/1 CuOUT Kα LiF145．02544．08046．180201010SC75， 3401/1 ZnOUT Kα LiF141．80041．08042．580201010SC81， 3281/1 CdF － Al Lα Ge74．58573．03576．035402020PC119， 2891/1 BaOUT Lβ 1 LiF179．24078．16079．960201010SC100， 3001/1 PbOUT Lβ 1 LiF128．26027．62528．725402020SC103， 3011/1 ① OUT 为无滤光片， F － Al 为铝滤光片; PC 为正比计数管， SC 为闪烁计数管; PHA 为脉冲高度分析器。 1． 2无机元素标准样品 定量分析用标准采用由美国 MicroMatter 公司 提供的无机元素标准薄膜。限于元素标样的数目 较少， 定量分析校准工作曲线采用单点比值法。 022 第 3 期 岩矿测试 http ∥ykcs． i3t． com． cn/ 2007 年 ChaoXing 1． 3样品 实验用石英滤膜 TSP 颗粒物样品由日本福冈 健康与环境科学研究所提供。样品制成直径 47 mm 的圆片， 用专用圆刀从石英滤膜上裁下。 2蒙特卡洛模拟法原理及数学模型 任何化学测量数据均涉及误差问题。假设一组 化学测量数据中的随机误差遵从正态分布。蒙特卡 洛模拟法通过计算机产生随机数，模拟具有正态分 布随机误差特征的样品测量数据、 标样元素浓度值 和工作曲线拟合误差， 通过各相关因素的误差传递， 从而达到计算测定结果不确定度的目的 ［ 4 ］。 颗粒物样品无机元素含量 ρi， μg/cm2 计算 公式为 ρi Ii a 1 式 1 中， Ii为样品中各无机元素 i 的 X 射线荧光 测量强度 kcps ; a 为工作曲线斜率， 通过最小二 乘法由式 2 求得 a I标样 ρ标样 2 式 2 中， I标样为标样 X 射线荧光强度测量值 kcps ; ρ标样为元素薄膜标样含量示值 μg/cm 2 。 合并式 1 和式 2 ， 可得式 3 ρi Ii I标样 ρ 标样 3 根据标样和样品 X 射线荧光强度测量值的平 均值及标准偏差、 元素薄膜标样含量示值及误差范 围， 利用计算机产生一组具有正态分布的误差数 据， 将测量值的平均值与模拟误差叠加构成模拟数 据。将此模拟数据代入式 3 计算， 可得到颗粒物 样品中元素含量的计算值; 然后利用式 4 叠加元 素含量的计算误差， 得到一组新的计算值 w1 m w1 m ρ 1 m E1 m 4 式 4 中， m 表示模拟数据的个数; E 表示元素含 量的计算误差， 用工作曲线拟合误差代表， 可由计 算均方根偏差 RMS 得到。RMS 由式 5 求得 RMS ∑ n i 1 ρ 标样 － ρ标样 2 n 槡 －1 式 5 中， ρ标样、 ρ标样分别为标样含量示值和计算 值; n 为标样测量次数。 不同的模拟数据对应不同的计算结果。对 m 个模拟数据的计算结果进行统计处理， 可得其平均 值及标准偏差， 进而得到颗粒物样品元素含量及扩 展不确定度。模拟次数为10000 时， 能得到稳定的 计算结果。此过程计算时间仅需数秒。 所有计算均在奔腾 Pentium CPU 3． 00 GHz 微型计算机上进行。有关蒙特卡洛模拟法的计算 程序由作者用 Matlab 语言编写。为方便读者理解 方法原理， 相关程序语句摘录如下 clear n 10000; number of MC simulation c 40． 4; sc 0． 0255; concentration of standard film and error Al q1 10． 556; s1 0． 000510; intensity of sample and standard deviation q2 101． 354; s2 0． 00212; intensity of standard film and standard deviation RMS 0． 1482; fitting error of calibration line for i 1 n; r1 randn 1 ; r2 randn 1 ; r3 randn 1 ; r4 randn 1 ; t1 q1* 1 s1* r1 ; tc c* 1 sc* r2 ; t2 q2* 1 s2* r3 ; E RMS* r4; x i t1* tc/t2 E; end w mean x y std x 3不确定度评估 3． 1不确定度来源 根据测定结果不确定度评估原则 ［3 ］， 本文对 XRF 法测定大气颗粒物中无机元素含量的不确定 度进行评估。通过分析测试全过程并参考相关文 献 ［5 －7 ］， 测试结果不确定度的主要来源有 ① 元素 薄膜标样含量示值相对误差; ② 仪器检测器 PC、 SC 计数标准偏差; ③ 元素薄膜标样 X 射线荧光强 度重复性测量偏差; ④ 颗粒物样品 X 射线荧光强 度重复性测量偏差; ⑤ 工作曲线拟合误差。其中 ①元素薄膜标样含量示值相对误差为 B 类分量， 其余为 A 类分量。 3．1．1元素薄膜标样示值相对误差 根据美国 MicroMatter 公司提供的标准证书， 各元素薄膜标样示值相对误差范围为 5。取置 信概率 95， α 0． 05， 按正态分布将各元素薄膜 标样示值相对误差转化为相对标准不确定度为 0． 05/1． 96 0． 0255 3． 1． 2仪器检测器 PC、 SC 计数标准偏差 重复测量纯 Al 块、 纯 Cu 块各 12 次， 测得 Al Kα线和 Cu Kα 线强度见表 2。根据此实验数据 计算得到仪器检测器 PC、 SC 计数的相对标准不确 122 第 3 期李玉武等 大气颗粒物样品波长色散 X 射线荧光光谱法无机元素测量结果不确定度评估第 26 卷 ChaoXing 定度分别为 0．238/ 槡 685．47812 0．000100 PC 计数器 0．319/ 槡 840．54012 0．000110 SC 计数器 此数据表明， PC 和 SC 计数器工作状态稳定， 两种检测器都能满足样品测量精度要求。 表 2仪器检测器 PC、 SC 计数的稳定性① Table 2Count stability of PC and SC detectors 测量 编号 PC 计数器 Al Kα， kcps SC 计数器 Cu Kα， kcps 测量 编号 PC 计数器 Al Kα， kcps SC 计数器 Cu Kα， kcps 1685．270840．4459685．400840．376 2685．400840．06010685．460840．442 3685．720840．39411685．240841．292 4685．990840．34012685．150840．583 5685．610840．435平均值685．478840．540 6685．670840．440标准偏差0．2380．319 7 8 685．520 685．310 840．744 840．932 相对标准 不确定度 0．0001000．000110 ① PC 计数器 电压为 50 kV， 电流为 20 mA; SC 计数器 电压为 50 kV， 电流为 15 mA。其余同表 1。 测量颗粒物样品 X 射线荧光强度时检测器计 数统计偏差根据式 6 求得 ［8 ］ u N N 1 R 槡 t 100 6 式 6 中， u N 为总计数标准不确定度; N 为总计 数; R 为计数率 kcps ; t 为计数时间 s 。 3． 1． 3标样及样品X 射线荧光强度重复性测量偏差 元素薄膜标样 X 射线荧光强度测量重复性数 据见表 3。 取 1颗粒物样品在 20 d 内， 分别测定 8 次。 其常见元素的 X 射线荧光强度重复性测量值及计 算的相对标准不确定度见表 4。由表 4 可见， 除 Cl 元素有一测量值明显偏低导致相对标准不确定度 偏高外， 其他常量元素相对标准不确定度较低; 微 量元素如 Ba、 Cd、 Pb 相对标准不确定度较高。 3． 1． 4工作曲线拟合误差 设工作曲线数学表达式为 Ii a ρi。测量某 一样品， 得到强度值 Ii， 带入直线方程计算求得 ρi， 则由线性回归分析所导致的不确定度 u E 为 ［ 8 ］ u E s a ，s ∑ n i 1 Ii － a ρi 2 n 槡 －1 7 式 7 中， s 为残差标准偏差; n 为标样测定次数。 从式 7 可看出， 决定线性回归分析所导致的 不确定度的主要因素是由线性回归方程计算得到 的残差标准偏差、 工作曲线的斜率、 标样 X 射线荧 光强度重复性测量标准偏差。标样强度测量重复 性好， 工作曲线的斜率大， 残差标准偏差小， 都可减 小工作曲线的拟合误差给样品测量结果不确定度 带来的影响。 制作各元素工作曲线用到的标样浓度、 X 射线 荧光强度 3 次测量值及工作曲线拟合误差见表 3。 与样品各元素含量测定值有关、 以相对标准偏差表 示的拟合误差见表 5。从表 5 中的数据可看出， 低 含量元素如 Mn、 Ba、 Cd、 Pb 拟合误差相对标准不确 定度较高。 表 3元素薄膜标样浓度、 X 射线荧光强度重复性测量 及相对标准不确定度和工作曲线拟合误差① Table 3Concentration of elements in standard film samples， their XRF intensity，relative standard uncertainty of measurment and fitting error of calibration regression curve 元 素 浓度 ρB 标样 X 射线荧光强度I标样/kcps No．1No．2No．3珋xs 相对标准 不确定度 工作曲线 拟合误差 Na18．07．2217．2057．2307．2190．0130．001010．031 Cl27．731．329 31．418 31．406 31．384 0．0480．0008880．043 Mg38．636．407 36．298 36．252 36．319 0．0800．001270．084 Al40．4 100．929 101．511 101．621101．354 0．3720．002120．148 S13．141．072 41．028 41．041 41．047 0．0230．0003180．007 K11．17．8957．9277．9127．9110．0160．001170．023 Ca25．230．041 30．097 30．056 30．065 0．0290．0005570．024 Mn4．3821．41521．4621．399 21．425 0．0320．0008520．064 Fe31．019．54619．5219．575 19．547 0．0280．0008130．044 Cu41．438．972 38．977 39．008 38．986 0．0200．0002890．021 Zn16．414．890 14．818 14．830 14．846 0．0390．001500．042 Ba36．53．5853．6043．6003．5960．0100．001610．100 Cd25．82．7692．7692．7762．7710．0040．0008420．035 Pb52．917．872 17．965 17．911 17．916 0．0470．001500．137 ① ρB和工作曲线拟合误差单位均为 μg/cm2; 珋x 为 3 次测量的 平均值; s 为标准偏差。 3． 2各不确定度分量的合成 测量常见元素时， 各主要不确定度分量， 如标 样示值相对误差、 检测器计数标准偏差、 标样及样 品重复性测量偏差、 工作曲线拟合误差列于表 5。 从表 5 可看出， 颗粒物样品重复性测量值的相 对标准偏差与检测器计数相对标准偏差这两列数 值有相关性。当限于时间和经费无法重复测定样 品时， 对一次测定值的测定重复性不确定度可用计 数相对标准偏差来估计。表 5 数据还表明， 测定过 程不确定度来源主要是元素薄膜标样示值误差和 工作曲线拟合误差。对某些含量较高的元素 如 S、 K、 Ca、 Fe、 Cu ， 不确定度来源主要是标样示值误 差; 对于低含量的元素 如 Mn、 Ba、 Cd、 Pb 等 ， 222 第 3 期 岩矿测试 http ∥ykcs． i3t． com． cn/ 2007 年 ChaoXing 不确定度来源主要是工作曲线拟合误差。如果条 件允许， 应考虑购买更多元素的标样， 增加工作 曲线中的点数， 以减小工作曲线拟合误差。增加测 量时间以降低总计数的相对标准不确定度。 表 4颗粒物样品各元素的 X 射线荧光强度重复性测量结果及其相对标准不确定度 Table 4X- ray fluorescence intensity of elements in particle samples and their relative standard uncertainty 元素 样品 X 射线荧光强度重复测量值Ii/kcps No． 1No．2No．3No．4No．5No．6No．7No．8平均值标准偏差 相对标准 不确定度 Na0．2570． 2600．2610． 2650．2630．2660．2650． 2660．2630．0030．00440 Cl1．1311．1291． 1271．0261．1111．1691．2541． 2791．1530．0810．0248 Mg0．8600． 8720．8740． 8840．8810．8910．8860． 8850．8790．0100．00400 Al10． 53310．55310．54510．56010．55310．58010．57510．54810．5560．0160． 000520 S58． 94359．03959．14559．26059．33059．59659．45259．41059．2720．2200． 00131 K4．3674．3584． 3694． 3554．3604．3604．3634． 3624．3620．0050． 000372 Ca16． 69816．69016．64916．64916．67116．74416．71616．76916．6980．0430． 000915 Mn0．1970． 2070．2140．2010．2030．2090．2010． 2010．2040．0050．00951 Fe5．0385． 0315．0235．0314．9905．0244．9975． 0205．0190．0170．00120 Cu1．7841．7931． 7751． 7821．7751．7631．7791． 7711．7780．0090．00179 Zn0．7410． 7410．7360． 7230．7410．7320．7310． 7110．7320．0110．00511 Ba0．0030． 0000．0020． 0030．0030．0000．0000． 0040．0020．0020． 310 Cd0．0010．0010． 0000． 0000．0020．0010．0000． 0010．0010．0010． 333 Pb0．1570． 1490．1490． 1310．1730．1470．1600．1390．1510．0130．0303 表 5元素测量结果不确定度各分量、 合成标准不确定度及置信区间① Table 5Major components of uncertainty and synthesized uncertainty by error propagation and Monte Carlo simulation 元素① 测定浓度 ρB②/ μg/cm2 置信区间③ 公式法 蒙特卡洛法 相对标准不确定度各分量 标样示值 检测器 计数 标样重复性 测定 样品重复性 测定 工作曲线 拟合误差 合成标准不确 定度/ μg/cm2 Na0． 6560．0720．0710． 02550．009250．001010．004400．04730．036 Cl1． 020． 110．110． 02550．004390． 0008880．02480．04220．056 Mg0．930． 180．180． 02550．005090．001270．004000．09030．088 Al4．210． 370．360． 02550．001540．002120．0005200．03520．183 S18．91． 01． 00． 02550．0006500． 0003180．001310．0003700．483 K6．120． 320．320． 02550．002340．001170．0003720． 003760．159 Ca14．00． 70． 70． 02550．001210． 0005570．0009150． 001710．358 Mn0．420．130．130． 02550．01510． 0008520．009510．1520．065 Fe7．960． 420．410． 02550．003110． 0008130．001200． 005530．210 Cu1． 890． 110．100． 02550．005190． 0002890．001790．01110．054 Zn0．8090． 0950．0930．02550．006760．001500．005110．05190．047 Ba0．020． 200．200． 02550．07900．001610．3105．000．100 Cd0． 0070．0700．0710． 02550．2350． 0008420． 3335．000．035 Pb0．440．280．280． 02550．01240．001500．03030．3110．138 ① Ba 和 Cd 元素测量结果的扩展不确定度大于其测定结果的平均值; ② ρB为 8 次测量结果的平均值; ③ 扩展因子 k 2。 根据计算公式 3 及误差传递原理， 合成相对 标准不确定度的公式如式 8 u ρ样品 ρ样品 u ρ 标样 ρ [] 标样 2 u I标样 I [] 标样 2 u I样品 I [] 样品 2 u N [] N 2 u E ρ [] 样品 槡 2 8 将表5 中的各不确定度分量数据代入式 8 ， 得 到合成后的相对标准不确定度。取包含因子 k 2， 各元素测量结果的平均值及扩展不确定度 置信区 间 同时列入表5 第 2 栏和第 3 栏。注意到有些元 素 如 Ba、 Cd 的测量结果小于扩展不确定度， 这表 明由于仪器和测试条件限制， 这些元素未检出的概 率为95［ 1 ］。定性扫描分析结果证实了以上判断。 322 第 3 期李玉武等 大气颗粒物样品波长色散 X 射线荧光光谱法无机元素测量结果不确定度评估第 26 卷 ChaoXing 3． 3蒙特卡洛模拟法计算结果与公式法比较 为了验证式 8 的计算结果， 本文尝试采用蒙 特卡洛模拟法计算颗粒物中无机元素含量的扩展 不确定度。 表 5 列出了对颗粒物样品分别用公式合成法 和蒙特卡洛模拟法计算的测量结果置信区间。从 表 5 数据可看出， 公式合成法和蒙特卡洛模拟法计 算结果完全一致， 两种计算方法的可靠性得到相互 验证。公式合成法计算简便; 蒙特卡洛模拟法可能 更适合计算复杂情况下的不确定度， 如计算公式是 非线性模型， 其不确定度很难用公式合成法计算。 4结语 用波长色散 X 射线荧光光谱仪 WDXRF 测 定石英滤膜大气颗粒物样品中无机元素含量的不 确定度， 主要来源是元素薄膜标样示值误差和工作 曲线拟合误差。对于低含量元素 ＜ 1 μg/cm2 ， 如 Mn、 Ba、 Cd、 Pb 等 ， 不确定度来源主要是工作曲线 拟合误差。公式合成法和蒙特卡洛模拟法计算结 果完全一致。蒙特卡洛模拟法也可以计算测量结 果的不确定度。 5参考文献 ［ 1］美国环保署． 大气颗粒物无机元素标准分析方法 ［ S］ ， IO3． 3， Determination of Metals in Ambient Partic- ulate Matter Using X- ray Fluorescence XRF Spectros- copy， 1999． ［ 2］Van Espen P，Janssens K，Nobels J． AXIL- PC，Soft- ware for the Analysis of Complex X- ray Spectra［J］ ． Chemometrics and Intelligient Laboratory Systems， 1986 1 109 －114． ［ 3］ 中国实验室国家认可委员． 化学分析中不确定度的 评估指南［ M］ ． 北京 中国计量出版社， 2002 3 －32． ［ 4］ 李玉武， 刘咸德． 用蒙特卡洛模拟法计算正交最小二 乘法拟合参数的标准偏差［J］ ． 岩矿测试， 2002， 21 1 24 －27． ［ 5］ 陈爱平， 王烨， 王苏明． X 射线荧光光谱法测定土壤 样品中氯的不确定度评定［J］ ． 岩矿测试， 2006， 25 3 270 －275． ［ 6］ 胡正阳， 邢华宝， 史厚义， 等． X 射线荧光光谱法测定 烧结矿中 TFe 的不确定度评定［ J］ ． 冶金分析， 2005， 25 1 82 －84． ［ 7］ 金德龙， 王承忠， 陆晓明， 等． X 射线荧光光谱法测定 高铝耐火材料中氧化铝的测量不确定度评定［J］ ． 冶金分析， 2005， 25 3 88 －92． ［ 8］吉昂， 陶光仪， 卓尚军， 等． X 射线荧光光谱分析 ［ M］ ． 北京 科学出版社， 2003 232，  236． 第三届全国实验室管理科学研讨会征文通知 由中国分析测试协会主办 、 分析试验室 编辑部承办 的 “第三届全国实验室管理科学研讨会” 定于 2007 年 7 月 10 ～14 日在青海省西宁市召开。 会议内容包括实验室管理科学、 实验室认证认可、 实验 室比对、 实验室信息管理系统 LIMS 、 实验室仪器设备运 行及考核、 实验室技术人员培训等有关方面的学术研讨。 会议将邀请有关专家做大会报告， 欢迎全国各行业的实验 室管理人员及实验室科研工作人员参加会议。 会议征文请在 2007 年 5 月 31 日前通过邮局邮寄、 电 子邮件发送到会议筹备组 三日内收到筹备组的回复邮件 方为发送成功 ， 并请注明联系人、 详细通信地址、 联系电 话、 传真号码及 E- mail 地址。征文经专家审稿后部分录用 征文可在 分析试验室 期刊正式发表。 欲参加会议的各界人士， 也请于 2007 年 5 月 31 日前 与会议筹备组联系， 以便继续为您寄发下一轮通知。 筹备组地址 100088北京新外大街 2 号 分析试验室 编辑部实验室管理会议筹备组 联系人孙臣良 田春霞 电 话 010 －82241919， 82013328 传 真 010 －82013328 E- mailana- info263． net 中国分析测试协会 422 第 3 期 岩矿测试 http ∥ykcs． i3t． com． cn/ 2007 年 ChaoXing